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Tema 2: INGENIERÍA DE MATERIALES en Optoelectrónica 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. INGENIERÍA DE MATERIALES: INTRODUCCIÓN Existe toda una gama de dispositivos electrónicos y optoelectrónicos ligados a las aplicaciones más importantes de nuestro mundo actual: la electrónica, la información y las telecomunicaciones Optical semiconductor amplifiers (SOAs), optical switches, modulators, multiplexers, splitters, filters, ... 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. -Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. Si GaAs GaN ESTRUCTURA DE BANDAS INGENIERÍA DE MATERIALES: SEMICONDUCTORES 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. -Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. INGENIERÍA DE MATERIALES: ESTADÍSTICA ( ) kTEE c FceNn −−= 23 2 * 2 2 ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜ ⎜ ⎝ ⎛ = hπ kTmN cc ( ) kTEE v vFeNp −−= 23 2 * 2 2 ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜ ⎜ ⎝ ⎛ = hπ kTmN vv 2 i nn p = Caso degenerado SEMICONDUCTOR EXTRÍNSECO INGENIERÍA DE MATERIALES: ESTADÍSTICA d c cF N NkTEE ln −= Diodo P-N Unión P-N en equilibrio h A– h A– h A– A– h h e h A– h A– h A– h A– D+ e D+ e D+ e D+ e h e D+ e D+ e D+ e D+ e h A– h A– A– A– h h e A– h A– h A– A– D+ D+ e D+ e D+ h e D+ e D+ D+ e D+ e e e e e h h h h h e P-N con voltaje aplicado e e e e h h h h h e EFp EFn e e e e h h h h h e EFp EFn INGENIERÍA DE MATERIALES: UNIÓN-PN La probabilidad de recombinación será proporcional a np, por lo que la corriente de portadores entrando en la zona activa (donde recombinan) debe ser igual a la tasa de recombinación. INGENIERÍA DE MATERIALES: UNIÓN P-N 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. POZOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD AlGaAs GaAs GaInNAs GaAs GaInP GaAs POZO CUÁNTICO: capa ultra-delgada encerrada entre sendas capas de otro semiconductor de mayor banda prohibida. Los electrones y huecos atrapados en el pozo (confinados en la dirección Z se podrían mover libremente en el plano XY. POZOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD EL ALINEAMIENTO DE LAS BANDAS ENTRE SEMICONDUCTOR POZO Y SEMICONDUCTOR BARRERA DEPENDE DE LA NATURALEZA QUÍMICA DE ÉSTOS. ALINEAMIENTO TIPO I ( ) gv gc EQE EQE Δ−=Δ Δ=Δ 1 g c ggg E EQ EEE Δ Δ = −=Δ 2,1, Barreras de potencial para electrones y huecos. Q: parámetro de alineamiento (band offset) POZOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD En el caso de huecos, hay que recordar que tenemos dos bandas (asociadas a spin total 3/2) degeneradas en k=0 En la aproximación de pozo infinito y suponiendo bandas parabólicas: INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD LA ANCHURA DEL POZO DETERMINA LA ENERGÍA DE LA TRANSICIÓN ÓPTICA. EL CÁLCULO SE MUY SIMPLE PARA LA BANDA DE CONDUCCIÓN, PERO NO TANTO PARA LA BANDA DE VALENCIA, SI SE NECESITA DE k>0. POZOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD Ejercicio: demostrar la expresión. La densidad de estados por unidad de energía en el caso bidimensional: 2 * )( 2 1 22 )()( h l l π ρ ρ he D N DD m EEED = −Θ= ∑ = HILOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD HILO CUÁNTICO: Tenemos barreras de potencial en dos direcciones. Los electrones y huecos atrapados en el hilo (confinados en la direcciones Z y X) sólo se podrían mover libremente a lo largo de la dirección Y. HILOS CUÁNTICOS Self-assembled INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD InAlAs-InAs InAs-InP T-shaped V-groove HILOS CUÁNTICOS Rectangulares………………………..…,solución numérica INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD HILOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD HILOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD La densidad de estados es ahora infinita en el borde de absorción de cada subbanda PUNTOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD Ahora los electrones y huecos confinados en el punto cuántico no se pueden mover y podríamos tener, dependiendo de sus dimensiones, hasta dos electrones: ATOMO ARTIFICIAL Auto-ensamblados Litografía PUNTOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD PUNTOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD El confinamiento espacial de portadores tiene muchas implicaciones sobre las propiedades ópticas y de transporte de los portadores. Parte de esstas implicaciones tienen que ver con la densidad de estados. 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. INGENIERÍA DEL GAP O DE LA ESTRUCTURA DE BANDAS : Diseño de estructuras basadas en materiales semiconductores con distintos valores de la banda prohibida. El conjunto de capas delgadas que determina tales estructuras le confiere unas determinadas propiedades para crear dispositivos con propósitos específicos. INGENIERÍA DE MATERIALES: INGENIERÍA DE MATERIALES ELECCIÓN DE LOS MATERIALES ADECUADOS PARA - LA ZONA ACTIVA - ELECTRODOS (DOPADO) - CONFINAMIENTO OPTICO INGENIERÍA DE MATERIALES: INGENIERÍA DE MATERIALES INGENIERÍA DE MATERIALES: INGENIERÍA DE MATERIALES INGENIERÍA DE MATERIALES: INGENIERÍA DE MATERIALES LA ESTRUCTURA DE BANDAS SE ALTERA CUANDO LA RED CRISTALINA ESTÁ SOMETIDA A TENSIONES, COMO LAS QUE SE PRODUCEN AL CRECER MATERIALES DIFERENTES SOBRE UN DETERMINADO SUBSTRATO INGENIERÍA DE MATERIALES: INGENIERÍA DE MATERIALES CONTROLANDO LAS CONDICIONES DE CRECIMIENTO Y DE LA CANTIDAD DE MATERIAL QUE SE ESTÁ DEPOSITANDO SE PUEDEN OBTENER NANOESTRUCTURAS CUÁNTICAS DEBIDO A LA RELAJACIÓN DE ESAS TENSIONES INTERNAS INGENIERÍA DE MATERIALES: INGENIERÍA DE MATERIALES 2. Ingeniería de Materiales en Optoelectrónica -Introducción. -Estructura de bandas. -Estadística de semiconductores. -Unión P-N. -Sistemas de baja dimensionalidad (estados electrónicos). -Ingeniería de materiales. -Propiedades ópticas de semiconductores y nanoestructuras. Recombinación en un Semiconductor El medio activo debe ser un semiconductor con estructura de bandas de tipo directo. - Conservación de Energía: E2 – E1 = hn - Conservación de Momento: k1 = k2 (kph despreciable) Ec Ev E k k k2 k1 E2 E1 RNR NR ττ τη + =i PARA SEMICONDUCTORES CON GAP DIRECTO ηi > 10 % PARA SILICIO, EL VALOR DISMINUYE HASTA CASI 10-5 % INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS kradiación despreciable frente a los vectores de la red recíproca (estados de Bloch), por lo que la transición es vertical ABSORCION ÓPTICAINGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS νh BC 2 1 BVCVf== ABSORCION ÓPTICA INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS νh BC 2 1 BV INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS ABSORCION ÓPTICA (en el caso general) Número de posibles transiciones radiativas con energía hν Probabilidad de que una transición de absorción esté permitida a esa energía Probabilidad de que una transición de emisión esté permitida a esa energía α > 0 significa absorción α < 0 significa ganancia INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS ABSORCION ÓPTICA (en el caso general) Probabilidad de que un estado cuántico con energía E1 (E2 ) esté ocupado con un electrón en BV (BC). ))(1)(()( 12 EfEfEf pnemisión −= Probabilidad de que un estado cuántico con energía E2 (E1 ) esté vacío en BC (BV). ))(1)(()( 21 EfEfEf npabsorción −= INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS ABSORCION ÓPTICA (en el caso general) α > 0 significa absorción fp (E1 ) > fn (E2 ) α< 0 significa ganancia fp (E1 ) < fn (E2 ) [ ])()()()( 21 EfEfEDE npCV −∝α ABSORCION ÓPTICA No se puede explicar con la fórmula anterior INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS EL EXCITÓN Atracción coulombiana e-h INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Vida y muerte de un EXCITÓN FOTÓN FOTÓN INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS r r HB m maa ε0* = EL EXCITÓN Modelo del átomo de hidrógeno INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS r r HB m maa ε0* = EL EXCITÓN Modelo del átomo de hidrógeno Excitones estables a temperatura ambiente EL EXCITÓN Estado ligado hidrogenoide INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en un Semiconductor INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Electrón caliente Termalización Fonones Fotones Recombinación RADIATIVA INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Emisión Espontánea Emisión Estimulada Velocidad de recombinación Rspsp = B np LEDs Velocidad de recombinación depende de n, p y de la densidad de fotones. LÁSER Recombinación en un Semiconductor INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Los defectos puntuales y otros defectos cristalinos (niveles profundos) suelen ser trampas para electrones o huecos, dando lugar a la recombinación no radiativa de estos portadores. Algo parecido sucede en la superficie del semiconductor. HAY QUE EVITARLOS EN COMPONENTES ÓPTICOS/OPTOELECTRÓNICOS fonones fonones Recombinación en un Semiconductor Indirecto INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Γ k Transiciones ópticas en pozos cuánticos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Absorción en pozos cuánticos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS EN EL EXPERIMENTO NOS ENCONTRAMOS UN BUEN ACUERDO CON LAS TRANSICIONES ÓPTICAS BANDA-BANDA con n = 0, e incluso con n distinto. SE ROMPE LA DEGENERACIÓN DE LA BANDA DE VALENCIA en k=0 NO SE DISTINGUEN BIEN LOS ESCALONES DE LA DENSIDAD DE ESTADO BIDIMENSIONAL, DEBIDO A LOS EFECTOS EXCITÓNICOS Y MEZCLA TRANSICIONES HH Y LH. Recombinación en pozos cuánticos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS CRIOSTATO E2 L1 L2 Filtros neutros Láser de Nd:YVO4 doblado Láser Ti:zafiro sintonitzable E1 L3 PMT APD PD M onocrom ador muestra -Lock-in -Contador Configuración backscattering para medida de Fotoluminiscencia (PL) y excitación de la PL (PLE) Recombinación en pozos cuánticos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS - La energía de la transición óptica aumenta (longitud de onda disminuye) al reducir la anchura del pozo cuántico o incrementar el potencial de confinamiento. Efecto de la anchura del pozo y del potencial de confinamientoe-LHe-HH - Al existir una barrera finita adicional a la de pozo cuántico, puede no haber estado ligado por debajo de una Lmin . - Cuando el pozo se hace muy estrecho la función de onda de los portadores se deslocaliza en las barreras. PL 2 4 7 nm Recombinación en pozos cuánticos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Efecto de la anchura del pozo y del potencial de confinamientoe-LHe-HH - Esperamos que al disminuir la anchura del pozo aumente la fuerza de oscilador, pero solo hasta que el efecto de deslocalización (casi 3D) sobre la barrera sea importante. - Se corrobora experimentalmente esta disminución, aunque en un pozo normal es un efecto muy pequeño y se notarán antes los efectos de las fluctuaciones de espesor. r D oscf τ 12 ∝ Recombinación en pozos cuánticos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS BS CRIOSTATO E2 L1 L2 Filtros neutros Láser de Nd:YVO4 doblado Láser Ti:zafiro sintonitzable E1 Òptica d’acoblament L3 Fotodiodo ràpido Camara Streak M onocrom ador retardoCamara CCD muestraPMT - TCSPC Configuración backscattering para medida de PL resuelta temporalmente (TRPL). EL láser Ti:zafiro ahora debe ser pulsado (1-2 ps anchura, típicamente) INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos Efectos excitónicos. Energía de enlace. 1s 2s Existe un incremento de la energía de enlace debido al cambio de constante dieléctrica entre pozo y barrera. Energía de enlace PLE LW δLW ¿¿¿¿¿EXCITONES LIBRES O LIGADOS???? INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos EL EXCITÓN PUEDE INCLUSO QUEDAR ATRAPADO EN MÍNIMOS LOCALES DE POTENCIAL. Las fluctuaciones de la anchura del pozo o composicionales (de pozo o barrera dependiendo de los materiales) producen un ensanchamiento inhomogéneo de la línea de emisión excitónica. La anchura homogénea viene determinada por procesos de dispersión excitón-fonón. El excítón es una sonda de medida nanométrica.PLEPL LW δLW EXCITONES CASI- LIBRES INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos TIEMPO DE VIDA RADIATIVO AUMENTA CON T (equilibrio térmico de la población excitónica 2D) con una pendiente inversamente proporcional a la fuerza de oscilador de la transición óptica. TRPL Aumentaría con T si no existiesen mecanismos de recombinación no radiativos LA RECOMBINACIÓN EXCITÓNICA, ¿ES RADIATIVA HASTA TEMPERATURA AMBIENTE? El cálculo de las energías de confinamiento de electrones y huecos es muy sensible al offset de las bandas AlGaAs/GaAs. Se puede estimar este offset dado que el mecanismo no radiativo viene activado por la energía de escape del portador menos confinado. QC = 70 % QC = 65 % INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos TRPL UNA VEZ SABIENDO CALCULAR ESTADOS CONFINADOS EN EL POZO CUÁNTICO SE PUEDE HACER UNA PRIMERA ESTIMACIÓN DEL ALINEAMIENTO DE BANDAS ENTRE DOS MATERIALES. Un ejemplo menos conocido: InGaP/GaAs INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos PLE PL COMPARANDO LAS ENERGÍAS MEDIDAS EN ESTRUCTURAS CON POZOS DE ANCHURAS DIFERENTES CON LAS CALCULADAS PARA VARIOS FACTORES DE ALINEAMIENTO, SE PUEDE DAR UN VALOR APROXIMADO PARA ÉSTE. INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos PL con presión INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos En este ejemplo de pozo cuántico las fluctuaciones de composición en la barrera son responsables del ensanchamiento inhomogéneo de la emisión excitónica. En GaAs/AlGaAs son las fluctuaciones de espesor. Simultáneamente, se produce una separación energética entre el pico de PL y el de PLE (Stokes Shift –SS-) que es tanto mayor cuanto mayor es el ensanchamiento inhomogéneo. Esto es general, tanto si los excitones quedan atrapados débilmente (localización débil o de Anderson) o fuertemente. 1.50 1.55 1.60 1.65 1.70 1.75 1.80 15nm 10nm 4.8nm3.4nm 2.3nm 1.4nm 0.85nm (a) Energy (eV) hh1s (b) 1.4 nm QW lh1shh1s (c) 2.3 nm QW lh1shh1s(d) 3.4 nm QW PL In te ns ity (a rb . u ni ts ) e 1 -h h 2lh1shh1s (e) 4.8 nm QW e 2 -h h 1e2-hh2lh1s hh1s (f) 10 nm QW e 2 -lh 2 e 2 -h h 2 lh1shh1s GaAs/InxGa1-xP x = 0.43 (g) 15 nm QW Si la localización es débil, MODELO TERMALIZACIÓN Se verifica en pozos basados en GaAs/AlGaAs y otros similares en calidad. Si la localización es fuerte, MODELO GEOMÉTRICO Se verifica en pozos basados en algunos materiales II-VI. INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos 4 6 8 10 12 14 16 0 2 4 6 8 10 12 (-6 + 1.1*FWHM)meV GaAs/InxGa1-xP x = 0.43 SS (m eV ) FWHM (meV) Yang et al. PRL 70, 323 (1993) 0 50 100 150 200 250 -5 0 5 10 15 20 25 30 35 40 (-4.9 + 0.185*FWHM2) mev 2 GaAs/InxGa1-xP x = 0.43 SS x k T c (m eV 2 ) FWHM 2 (meV 2) Los pozos InGaP/GaAs están en el límite con matices. Ejercicio: revisar las características de ambos modelos INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en pozos cuánticos NR y NRR son las poblaciones de excitones libres y localizados (en un mínimo de potencial), cuya estadística de ocupación viene definida por un BORDE DE MOVILIDAD (EME), g(E) es la densidad de estados, tloc el tiempo de recombinación (supuesto el mismo para ambos tipos de excitones) y W la probabilidad de que el excitón libre de energía E pase a localizado por debajo de esta energía. INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS Recombinación en hilos cuánticos. Un ejemplo: hilos auto-ensamblados InAs/InP Dimensiones Típicas: Altura ~ 2 nm Periodo ~ 18 nm Longitud > 1 µm Diferencia de parámetro de red InAs/InP ~ 3.2 % [110] [110] 500 nm 500 nm INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS InAs/InP QWR samples θInAs = θc = 1.6 ML θInAs = 2.6 ML θInAs = 3.6 ML θInAs = 4.6 ML InAs deposition: 500 x 500 nm2 AFM images INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS 0,75 0,85 0,95 1,05 1,15 x1 x1 x10 T=300 K I PL (a rb . u ni ts ) Energy (eV) x10 T=12 K T=300 K T=12 K b a 1100 1200 1300 1400 1500 1600 1700 1800 1900 2000 θ = θc+ 3.0 ML θ = θc+ 2.0 ML θ = θc+ 0.2 ML θ = θc θ = θc- 0.2 ML PL in te ns ity (a rb . u ni ts ) Wavelength (nm) INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS 4 6 8 10 12 0,75 0,80 0,85 0,90 0,95 1,00 1,05 1,10 1,15 I2612-1 I2612-3 Pe ak E ne rg y (e V) Height (MLInAs) Ref.: B. Alén, J. Martínez-Pastor, A. García-Cristobal, L. González and J.M. García, Appl. Phys. Lett. 78, 4025 (2001). HILOS CUÁNTICOS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD Yoshita et al., PHYSICAL REVIEW B 74, 165332 2006 B. ALÉN, D. FUSTER, Y. GONZÁLEZ, L. GONZÁLEZ & J. MARTÍNEZ-PASTOR, InAs/InP single quantum wire formation and emission at 1.5 mm, Appl. Phys. Lett. 89, 233126-1/3 (2006). InAs SINGLE NANOWIRES EXCITON LIQUID VERSUS EXCITON GAS INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD ¿Qué es un punto cuántico semicondutor? Agrupación de 104 – 106 átomos con orden cristalino, eventualmente rodeado de otro material de mayor banda prohibida. ¿CÓMO SON? WL QDQD GaAs InAs GaAs GaAs QD-InAs INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD ¿PORQUÉ? Motivos de Investigación Básica y Aplicaciones - Modificación de la densidad de estados de 3D a 0D. - Fuerte absorción y alta eficiencia radiativa. - Comportamiento (0D) de “átomo artificial”. - Se encuentran inmersos en matriz semiconductora, por lo que sus estados se podrían controlar a través de dispositivos. - Sistemas a dos niveles: gran coherencia. - Interacción de Coulomb importante. - Diferentes consecuencias (aplicaciones) para QD aislados y para conjuntos. LASERESLASERES INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD Nueva Física de Semiconductores Nuevas Aplicaciones “cuánticas” ¿¿ Fotónica + Electrónica ?? Fabricación de microcavidades y control preciso de QD e impurezas. Acceso a un estado cuántico Manejo de estados cuánticos Inicialización Procesado Óptica Qu. Resultado Envío INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD Espacio libre Acceso a un estado cuántico Manejo de estados cuánticos p se c se F ττ 11 = 3 3 2 8 )( )(21 c iHf QD QD QD ee πν νρ νρπ τ = ≈ h V Q n Fp 3 3 24 3 λ π ≈ Cavidad FACTOR DE PURCELL INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD ESTRUCTURA ELECTRÓNICA - Niveles discretos, entre los que existe una separación de niveles de electrones entre 20 y 70 meV, y unos 10 meV para huecos. - Ello será una situación favorable para la operación de dispositivos a temperatura ambiente. Potencial tipo pozo Potencial tipo Oscilador armónico 2D 0D fotón CAPA D CAPA P CAPA S INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD EXCITON-BIEXCITÓN Los estados puros dan lugar a líneas de emisión con polarización circular, mientras que los estados mixtos producen líneas con polarización lineal según las direcciónes [1-10] and [110]. En Fotoluminiscencia veremos los dos estados brillantes (si están mezclados) como líneas separadas una cierta energía (Estructura Fina, FSS) según la polarización usada en detección. ⎩ ⎨ ⎧ −± −± ≡±± Brillante ,11 Oscuro ,22 2 1, 2 3 ),(SPIN electrónhueco Pueden mezclarse por la simetría del QD R. Seguin et al., Phys Rev Lett 95, 257402 (2005) INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD LOS TRIONES Si en el QD existe, por ejemplo, una electrón (hueco), previo a la formación del excitón (por captura o fotogeneración directa), obtenemos una nueva cuasipartícula, el trión negativo (positivo). En este situación se elimina la interacción de intercambio electrón-hueco y desaparecen los efectos de polarización. G. Bester, A. Zunger, Phys Rev B 68, 73309 (2003) X- INGENIERÍA DE MATERIALES: BAJA DIMENSIONALIDAD FenFenóómeno meno IntrIntríínseconseco Transiciones Transiciones radiativasradiativas IntrIntríínsecos: nsecos: Interacciones entre los portadoresInteracciones entre los portadores ExtrExtríínsecos: nsecos: Interacciones entre impurezasInteracciones entre impurezas EstructuraEstructura ReproducibleReproducible INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS AsignaciAsignacióón n ExcitExcitóónicanica y y MultiexcitMultiexcitóónicanica:: Transiciones a bajas potencias.Transiciones a bajas potencias. EvoluciEvolucióón lineal y n lineal y superlinealsuperlineal.. Contraste con datos en Literatura.Contraste con datos en Literatura. X+X 0 8,3 P0 6,7 P0 4,2 P0 2,5 P0 2 P0 1,5 P0 P0 0,7 P0 0,5 P0 0,4 P0 0,3 P0 0,1 P0 X2- XXX - 1.060 1.062 1.064 1.066 1.068 1.070 1.072 x2 E(eV) INGENIERÍA DE MATERIALES: PROPIEDADES OPTICAS InAs QUANTUM DOTS on patterned GaAs Confocal micro-PL image 2. QLS: 2. QLS: Single Photon EmissionSingle Photon Emission Triggered Single Photon Emission Exciton- Biexciton recombination 2. QLS: 2. QLS: Single Photon EmissionSingle Photon Emission InAs QUANTUM DOTS patterned on GaAs QUANTUM DOTS grown on patterned GaAs by Ga- droplet MBE epitaxy It can be identified+labelled by AFM 2. QLS: 2. QLS: Single Photon EmissionSingle Photon Emission TEMA_2_INGENIERxA_DE_MATERIALES_parte1 Tema 2: ��INGENIERÍA DE MATERIALES en Optoelectrónica Número de diapositiva 2 Número de diapositiva 3 Número de diapositiva 4 Número de diapositiva 5 Número de diapositiva 7 Número de diapositiva 8 Número de diapositiva 9 Número de diapositiva 11 Número de diapositiva 13 Número de diapositiva 14 Número de diapositiva 15 Número de diapositiva 16 Número de diapositiva 17 Número de diapositiva 19 Número de diapositiva 20 Número de diapositiva 21 Número de diapositiva 23 Número de diapositiva 24 Número de diapositiva 25 Número de diapositiva 26 Número de diapositiva 27 Número de diapositiva 30 Númerode diapositiva 31 Número de diapositiva 32 Número de diapositiva 33 Número de diapositiva 34 Número de diapositiva 35 Número de diapositiva 36 Número de diapositiva 37 Número de diapositiva 38 Número de diapositiva 39 Número de diapositiva 40 Número de diapositiva 41 Número de diapositiva 42 Número de diapositiva 43 Número de diapositiva 44 Número de diapositiva 45 Número de diapositiva 46 Número de diapositiva 47 Número de diapositiva 48 Número de diapositiva 49 Número de diapositiva 50 Número de diapositiva 51 Número de diapositiva 52 Número de diapositiva 53 Número de diapositiva 54 Número de diapositiva 55 Número de diapositiva 56 Número de diapositiva 57 Número de diapositiva 58 Número de diapositiva 59 Número de diapositiva 60 Número de diapositiva 61 Número de diapositiva 62 Número de diapositiva 63 Número de diapositiva 64 Número de diapositiva 65 Número de diapositiva 66 Número de diapositiva 67 Número de diapositiva 68 Número de diapositiva 70 Número de diapositiva 71 Número de diapositiva 73 Número de diapositiva 75 Número de diapositiva 76 Número de diapositiva 77 Número de diapositiva 78 Número de diapositiva 81 Número de diapositiva 82 Número de diapositiva 83 Número de diapositiva 85 Número de diapositiva 91 Número de diapositiva 92 Número de diapositiva 93 Número de diapositiva 94 Número de diapositiva 95 Número de diapositiva 103 Número de diapositiva 104 Número de diapositiva 106 Número de diapositiva 107 Número de diapositiva 108 TEMA_2_INGENIERxA_DE_MATERIALES_parte2 Tema 2: ��INGENIERÍA DE MATERIALES en Optoelectrónica Número de diapositiva 2 Número de diapositiva 3 Número de diapositiva 4 Número de diapositiva 5 Número de diapositiva 7 Número de diapositiva 8 Número de diapositiva 9 Número de diapositiva 11 Número de diapositiva 13 Número de diapositiva 14 Número de diapositiva 15 Número de diapositiva 16 Número de diapositiva 17 Número de diapositiva 19 Número de diapositiva 20 Número de diapositiva 21 Número de diapositiva 23 Número de diapositiva 24 Número de diapositiva 25 Número de diapositiva 26 Número de diapositiva 27 Número de diapositiva 30 Número de diapositiva 31 Número de diapositiva 32 Número de diapositiva 33 Número de diapositiva 34 Número de diapositiva 35 Número de diapositiva 36 Número de diapositiva 37 Número de diapositiva 38 Número de diapositiva 39 Número de diapositiva 40 Número de diapositiva 41 Número de diapositiva 42 Número de diapositiva 43 Número de diapositiva 44 Número de diapositiva 45 Número de diapositiva 46 Número de diapositiva 47 Número de diapositiva 48 Número de diapositiva 49 Número de diapositiva 50 Número de diapositiva 51 Número de diapositiva 52 Número de diapositiva 53 Número de diapositiva 54 Número de diapositiva 55 Número de diapositiva 56 Número de diapositiva 57 Número de diapositiva 58 Número de diapositiva 59 Número de diapositiva 60 Número de diapositiva 61 Número de diapositiva 62 Número de diapositiva 63 Número de diapositiva 64 Número de diapositiva 65 Número de diapositiva 66 Número de diapositiva 67 Número de diapositiva 68 Número de diapositiva 70 Número de diapositiva 71 Número de diapositiva 73 Número de diapositiva 75 Número de diapositiva 76 Número de diapositiva 77 Número de diapositiva 78 Número de diapositiva 81 Número de diapositiva 82 Número de diapositiva 83 Número de diapositiva 85 Número de diapositiva 91 Número de diapositiva 92 Número de diapositiva 93 Número de diapositiva 94 Número de diapositiva 95 Número de diapositiva 103 Número de diapositiva 104 Número de diapositiva 106 Número de diapositiva 107 Número de diapositiva 108
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