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Medición de gradiente de composición y espesor en films de Fe-Ga utilizando Espectroscopía por Retrodispersión de Rutherford (RBS) Investigador responsable: Luis M. Rodríguez. En la fabricación de films delgados sobre sustratos es indispensable poder determinar el espesor y la concentración elemental en profundidad de las películas crecidas. No sólo es crítico para calificar el producto obtenido sino también para valorar la técnica empleada en su producción. La Espectroscopía por Retrodispersión de Rutherford (RBS) se vale de la utilización de iones como sondas de prueba para realizar esta tarea. El análisis de la energía de los iones reflejados sobre la muestra nos brinda información acerca de los elementos que la componen y la profundidad a la que se hallan, en tiempos razonables y sin destruir la muestra. En esta práctica, utilizando RBS efectuaremos mediciones de composición, espesor y calidad de films de Fe-Ga crecidos por evaporación sobre sustratos de Si y vidrio. Además se aprovechará la medición para ver de qué modo entran en juego en la técnica la modificación de variables tales como la energía del proyectil o el ángulo de dispersión.
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