33068000999685

Vista previa del material en texto

Nº de proyecto: ISE 2005-104 
El Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de 
Monterrey 
Presentado por: 
Paulina Cuéllar Castelazo 
Alfredo Gutiérrez Galbert 
Edgar Alejandro Borroel Gómez 
Sisten1a Verificador de Componentes 
Electrónicos 
Presentado el día 23 de no\ iembre del 2005 a las 10:45 hrs. 
Asesor: 
M. en C Fla,io Pontecono Cassereau 
Sinodales: 
:VI. en C. Marco Antonio Paz Ramos 
Dr . .José Ramón Álvarez Bada 
Profesor: 
Dr. Francisco .Javier Cuevas Ordaz 
Profesor ITESJI-CC 'JI 
Profesor 17'/:S.\f-( '( '.\! 
Profesor IT!:S,\f-C ·e'.\/ 
Trabajo ef'cctuado en el departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica del lnstitutu 
Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey, Campus Ciudad de México. 
Integrantes: 
TECNOLÓGICO 
DE MONTERREY® 
Alfredo Gutiérrez Galbert 
Paulina Cuéllar Castelazo 
Edgar Alejandro Borroel Gómez 
--J- .,-_______ ,1.-__ 
c...Jc;=- C...... &...1111.,....,,,&...II lc=:I IL e=;-~ 
¿e__ 1~.~ ... 1 .... ----.,,...!....,..._* ___ ,......_~ 
« le=-&.-«- I IL..I.I IIL....&...,1.---, 
Asesor: M. en C. Flavio Pontecorvo Cassereau 
Sinodales: Dr. José Ramón Álvarez Bada, M. en C. Marco Antonio Paz Ramos 
Profesor: Dr. Francisco Javier Cuevas Ordaz 
Objetivos 
Desarrollar el circuito 
probador de componentes. 
Desarrollar el software 
utilizando LabVIEW para la 
interfaz gráfica y el 
procesamiento de datos. 
Desarrollar el sistema que 
defina el comportamiento, 
características y parámetros 
de los componentes 
electrónicos .. 
"' 
Código LabVIEW 
8 
Descripción 
Sistema Físico 
Justificación 
Al realizar prácticas en el laboratorio 
varias veces nos encontramos con el 
problema de que algún componente no 
funciona. 
Por esta razón buscamos una manera 
más práctica y eficiente de lograr saber 
si antes de utilizar algún chip o 
componente en una práctica o 
proyecto éste funciona correctamente. 
Este sistema consiste en un dispositivo 
que compruebe el correcto funcionamiento 
de diferentes componentes electrónicos. 
Por esto se busca dar una solución 
práctica al problema antes 
mencionado mediante un dispositivo y 
software fáciles de utilizar. 
Consta de 2 partes fundamentales: 
Hardware.· Una base para los 
componentes que se quieran 
verificar y conexión a la 
Tarjeta de Adquisición 
USB-6008. 
Software.· Forman la lógica y 
procesamiento para verificar 
la correcta funcionalidad de 
los componentes. Para 
implementar esta parte 
utilizamos el software de 
desarrollo LabVIEW. 
Recepcion Configu,ocion 
Pr oC ~$ami@nto 
Interfaz de usuario 
Resultados 
Los resultados que obtuvimos fueron satisfactorios, debido a 
que las pruebas que se hicieron con diferentes circuitos integrados 
nos permitieron comprobar que la verificación de componentes se 
realizara de manera correcta. La base de datos incluye los 
componentes combinacionales más empleados en el laboratorio. 
Además de esto, el software fue realizado de manera modular para 
que se pueda expandir en un futuro, es decir, agregar más tipos de 
circuitos como secuenciales, transistores, etc. 
Índice 
, 
Indice 
Introducción General ...... ................... .. ........ ........... .. ......... ...................... .................... 1 
Capítulo 1 LabVIEW 
1.1 Introducción ............................................................................................................. 3 
I.2 Lenguaje G ................................................................................................................... 3 
I.3 Principales Usos .......................................................................................................... 4 
I.4 Principales Características .............................................. ............... .. .... .. .................... .4 
I.5 Conclusiones ............................................................................................................. 5 
Capítulo II USB-6008 
II. l Introducción .............................................................................................................. 6 
Il.2 Características Principales .......... .. ...... .. .................................................................... 6 
Il.2.1 Software 
Il.2.2 Hardware 
II.3 Aplicaciones ............................................................. .................................................. 8 
II.4 Conclusiones ............................................................................................................. 9 
Capítulo III Algoritmo y Pruebas 
III.l Introducción ........... .. ......... .... .................................................................................. 10 
III.2 Algoritmo ............................................................................................................ 10 
III.3 Pruebas ............... .. ...... .... ....... .. ..... .. ....... .. ............................................................... 13 
III.4 Conclusiones .............................................................................. ........... .. .. .............. 15 
Capítulo IV Requerimientos y Ventajas 
IV. l Introducción ......................................................................................... ................... 16 
IV.2 Requerimientos del Sistema ......................... .. ................................................... 16 
IV.3 Comparación ........................................................................................................... 17 
IV .4 Conclusiones ..... .... ........ .. ........ .. .............................................................................. 19 
Índice 
Conclusiones generales y perspectivas ........................................................................ 20 
Referencias .......... .. .. ......... .. ........ .. ............... .. ..................................................... ........... 22 
Anexos ........................................................................................................................... 23 
Introducción general 
Introducción general 
El Sistema Verificador de Componentes Electrónicos nació por una necesidad del 
laboratorio del departamento de electrónica, ya que al realizar prácticas dentro de éste, 
sucedía que algún componente no funcionaba y nos dábamos cuenta hasta que todo el 
circuito estaba armado. Entonces se empieza a probar el circuito parte por parte hasta 
lograr encontrar qué componente es el que está fallando. A veces no es posible y se tiene 
que rearmar el circuito. Para lograr solucionar este problema lo mejor sería utilizar 
solamente componentes nuevos, pero además de que esto es impráctico y caro, ni 
utilizando componentes nuevos se está 100% seguro de que los chips funcionarán 
adecuadamente. 
Es por esta razón que buscamos una manera más práctica y eficiente de lograr saber si 
antes de utilizar algún circuito integrado o componente en una práctica o proyecto éste 
funciona correctamente, la cual es nuestro sistema que consiste en un probador de 
circuitos integrados de diferente naturaleza, como circuitos combinacionales, secuenciales 
y analógicos, además de transistores y diodos. 
Este proyecto propone una solución principalmente para los circuitos combinacionales 
debido a que al ser un proyecto que se realizará desde cero, se necesita empezar con los 
circuitos cuyo funcionamiento sea más sencillo, como lo son los combinacionales, debido 
a que presentan únicamente entradas y salidas las cuales su funcionamiento se puede 
representar mediante tablas de verdad, y no presentan característica de memoria. 
Los objetivos de este proyecto son 2 principalmente. Por una parte desarrollar el circuito 
probador de componentes y por otro lado implementar el software, utilizando LabVIEW, 
para la interfaz gráfica, el procesamiento de datos y el sistema que defina el 
comportamiento, características y parámetros de los componentes. 
Un dispositivo de este tipo, capaz de verificar las características de distintoscomponentes 
electrónicos, y saber si todavía es funcional, puede ser de gran ayuda durante el 
desarrollo de proyectos electrónicos. Esta será una herramienta de uso muy sencillo, que 
ayudará a reducir considerablemente la pérdida de tiempo en identificar algún error en un 
circuito cuando el problema es que uno de los componentes ya no funciona. Esta 
herramienta será de gran utilidad, y puede llegar a convertirse en un dispositivo básico 
para el desarrollo de cualquier circuito electrónico. 
La lógica-transistor-transistor se utiliza en circuitos digitales para la fabricación de 
circuitos integrados a partir de resistores y transistores de unión bipolar (BJT). Tienen 
una escala de integración baja a media, pudiendo contener cientos de transistores. 
Los circuitos TIL se popularizaron para el diseño de sistemas electrónicos en la década 
de 1960. Su amplia aceptación se debe a su facilidad de uso, bajo costo, velocidad de 
operación media-alta, y buena capacidad de salida. Dentro de la familia, hay distintas 
series que tienen características particulares, que las distinguen entre sí. Estas son: 74 
estándar, 74L de baja potencia, 74H de alta velocidad, 74S estándar Schottky, 74LS serie 
Schottky de baja potencia, y 74ALS serie Schottky avanzada de baja potencia. 
Introducción general 
La representación física de la lógica de estados binarios se hace mediante voltajes alto y 
bajo. Donde los voltajes bajo (L) están en el rango de O V a 0.8 V, que se considera un O 
lógico, y los voltajes alto (H) están en el rango de 2.0 V a 5.5 V, considerados 1 lógico. 
Este documento esta dividido en 4 capítulos principales, que a continuación se describirá 
cada uno de ellos. 
El Capítulo I presenta de manera general el software que se utilizó para el desarrollo del 
proyecto, en este caso LabVIEW. Se presenta el tipo de lenguaje que utiliza, sus 
características principales, sus funciones y aplicaciones más comunes. 
El Capítulo II presenta información sobre la tarjeta de adquisición que utilizamos para 
enviar y recibir datos al circuito integrado. También se presentan sus características 
principales, el software, la distribución de pines, aplicaciones y sus especificaciones 
técnicas. 
El Capítulo 111 presenta el algoritmo que se utilizó en el programa, así como la 
descripción detallada de cada una de las etapas. También se presentan resultados de 
nuestras pruebas. 
El Capítulo IV presenta los requerimientos tanto de software como de hardware del 
sistema, así como una comparación contra otros dispositivos con funciones de verificación 
de componentes. También se establecen las ventajas de nuestro sistema respecto a los 
sistemas comerciales encontrados. 
Finalmente, las conclusiones generales y las perspectivas que tenemos de nuestro 
proyecto. 
2 
Capítulo I LabVIEW 
Capítulo I 
LabVIEW 
1.1 Introducción 
LabVIEW es una herramienta de programación gráfica para el diseño e implantación de 
sistemas de adquisición de datos, instrumentación y control. Utiliza el lenguaje de 
programación G. 
Este programa fue creado por National Instruments, NI, para la plataforma Mac en el año 
1986. Actualmente está disponible para las plataformas Windows, UNIX, Mac y Linux y la 
versión más moderna es la 7.1. 
Los programas de LabVIEW se llaman Instrumentos Virtuales (VI por sus siglas en inglés). 
Cada VI tiene dos componentes, un panel frontal y un diagrama de bloques. 
El panel frontal es la interfaz con el usuario, en donde se definen los controles e 
indicadores que se muestran en pantalla. El diagrama de bloques es el programa 
propiamente dicho, donde se define su funcionalidad, aquí se colocan iconos que realizan 
una determinada función y se interconectan. 
1.2 Lenguaje G 
"G" es un lenguaje de programación de flujo de datos. Este lenguaje es diferente a los 
tradicionales debido a que su ejecución comienza cuando todos los datos de entrada 
llegan a estar disponibles para un nodo. Este lenguaje es capaz de realizar ejecuciones 
paralelas. 
La ventaja principal de este lenguaje es que es gráfico, por ejemplo, los nodos son iconos 
gráficos, no es necesario tener conocimiento de algún lenguaje de comandos para el 
desarrollo de proyectos utilizando LabVIEW, debido a que los programas se construyen 
simplemente arrastrando los íconos al diagrama de bloques. 
En la Figura 1 se muestra un ejemplo de un programa diseñado en LabVIEW el cual 
consiste en sumar 2 números los cuales el usuario los elige y a dicha suma se le resta con 
una valor constante de 50 y el resultado se despliega en la interfaz. 
Input A 
12)(, 
Add 
[~> 
Subtract 
(~~> 
Result 
[> 1.23 
Input E; 
Const.:,rit 
Figura l.Ejemp/o de un programa en LabVIEW 
3 
Capítulo I LabVIEW 
1.3 Principales Usos 
Los principales usos que tiene este software de programación son: 
* Adquisición de datos 
* Control de instrumentos 
* Automatización industrial o PAC (Controlador de Automatización Programable) 
* Diseño de Control 
Es usado principalmente por ingenieros y científicos debido a su funcionalidad y las tareas 
que puede cubrir. 
I.4 Principales Características 
Su principal característica es la facilidad de uso, ya que el usuario no requiere 
conocimientos muy profundos en programación con lenguajes de texto como C o Java 
para realizar programas complejos. Otra ventaja es la velocidad con que se pueden 
realizar programas bastante complejos que tardarían mucho más tiempo en ser 
desarrollados en algún lenguaje de programación tradicional. Otra gran ventaja de este 
software es la complejidad de los programas que se pueden desarrollar con éste, 
contando algunos con hasta miles de VI's y estos VI's constan de una interfaz gráfica 
interactiva de usuario y un diagrama de flujo de datos que hace las funciones de código 
fuente. 
Presenta facilidades para: 
* Manejo de interfaces de comunicaciones: 
o Puerto serie 
o Puerto paralelo 
o GPIB 
o PXI 
o VXI 
o TCP/IP, UDP, DataSocket 
o IrDA 
o Bluetooth 
o USB 
* Interacción con otras aplicaciones: 
o Mediante librerías dinámicas de Windows (dll) 
o Mediante controles ActiveX 
o Matlab y Simulink 
* Procesamiento digital de señales mediante herramientas incluidas. 
* Gráficas de datos dinámicos. 
* Adquisición y procesamiento de imágenes. 
* Programación de FPGA's. 
* Sincronización 
Capítulo I LabVIEW 
I.5 Conclusiones 
Presentamos en este capítulo las características principales de LabVIEW, así como sus 
usos y su funcionamiento. Esta información es muy importante debido a que todo el 
desarrollo de nuestro programa se realizó en LabVIEW. 
5 
Capítulo II USB-6008 
Capítulo II 
USB-6008 
11.1 Introducción 
Esta tarjeta de adquisición USB-6008 fue desarrollada por NI, la cual provee una gran 
capacidad para adquirir datos a un costo relativamente bajo y de manera sencilla. Permite 
conectividad USB plug- and -play. Permite ser programada en LabVIEW o ambientes de 
desarrollo basados en C. 
11.2 Características Principales 
Este dispositivo, al ser una tarjeta de adquisición de datos, presenta características de 
software y hardware que a continuación se explicarán más a detalle. 
11.2.1 Software 
Esta tarjeta cuenta con el software DAQmx Base el cual fue creado por NI. Es un software 
de interacción de alto desempeño multiplataformas, con el cual el usuario puede 
desarrollar aplicaciones específicas de adquisición de datos utilizando ambientes gráficos 
de programación como LabVIEW o ambientes desarrollados en lenguaje C. 
11.2.2 Hardware 
La tarjeta USB-6008 cuenta con las siguientes características: 
• Entradas Analógicas.- Tiene 8 entradas, permite muestreo máximo de lOkS/s 
(10000 muestras por segundo). Convertidor AD de 12 bits. 
• Salidas Analógicas: 2 salidas. Rango de voltaje es de O a SV. Rango de salida es 
de 159Hz.Convertidor DA 12 bits. 
• Entradas y Salidas Digitales: Son 12 líneas las cuales pueden ser entradas o 
salidas. Estas líneas se organizan en puertos. Señal en bajo es de -0.3v a +0.8v. 
Señal en alto es de2.0v a +5.8v. 
• Contador: Este contador es de 32 bits. 
• Fuente de voltaje: Tiene 2 salidas de voltaje una de Sv y otra de 2.Sv. 
Capítulo II USB-6008 
En la Figura 11 .1 se muestra la tarjeta de adquisición USB-6008 . 
....... -
Figura JI. l . USB-6008 
A continuación se muestran a detalle los pines del puerto de entradas y salidas analógicas 
(ver Figura 11.2.) 
\ i u i ll k 
1 -- -
_ , 
:::,·. 
Terminal 
Signa!, 
Singll' · Ende<l \ lodr 
\ i~nal, 
l>ifll·rential \lode 
·· ··- ··- -- - - --- ······-···-·· ·--- -- - ··-- ·-· -·--- ·---- -= -·-.:...:..:..:.:.. ·- .:.::.:..... ..... _ ---··------• 
. \ ¡ , l 
\ 1 .¡ 
.¡ l , .\, IJ 
' .\ 1 : 
(l \ [ . 
') 
Ji) 
11 
¡ 
i 
-··- -···-!.·-· 
i . 
\ 1 2 
.·\ , , .. 
.\ 1 ; 
\] 
Figura JJ.2. Puerto Analógico 
\ 1 ( ! ' 
\ ( 1 ! 
( 1\1.l 
1· · 
. \ 1 1 , 
\ l 
.\ i .: 
( ,' .I l 
\ ¡ ;_ -
\ 1 ' 
7 
Capítulo II USB-6008 
En la Figura 11.3 se muestran a detalle los pines del puerto digital. 
1 \lodule 
~· 
r-
8 
1 
L-
~- -
' 
-
~I 
,... 
,-
1~ 
en Cg ,-
c:::, [g N .,... 
~ N 
,N Cg JN 
C'I) ~ N 
""' Cg N 
U') ~ N 
e.e, 
~ N 
11~ 
~ 
~ 
' 
!¡C, Cg IIN 
!1~ ~ 
·, C'I) ~ 
!~ [g 
--T 
~ u ~ 
---~ ----
¡ Terminal i Signal \ --~-=-:c4=:::-·.-- --===d 
J7 
1 
1 
! 
PtJ. I 
P0.-2 
f-- 2.,- =~~r- 1_)º_·-'_ 
f----___ :_ 1 __ . ____ +-- PIJ.~.---
1 .'2 l PO . .:'i 
~~ =- =1~--=·-P-O 6 ____ __J______J' 
"-+ i PO 7 1 r--- ~.:'i ··-----·-+--------~~- ; 
L 1 · ,----.. ·-·-----·r--~-
1 2b · PI. 1 I 
r ·-_,-;------+-----~-~, 
f--------· ---- •- -- -'----~--- __ .,. ______ --------~ 
l---:~ -- f :i1:, . 
L_ __ · ·--·--- +-1 -----
l---·------- -,11 +2 . .:'i \' 
____ ...J 
! 
! 
' 1 
~----- · ' 
! ~ 1 
t-S V 
--·---- .. {-----· 
1 
·--- --·------- ---
(i ;\ 1) 
L _____ . --·· ' -·-·- -----------------·-------. 
Figura JlJ. Puerto Digital 
11.3 Aplicaciones 
Esta tarjeta es ideal para aplicaciones tales como: 
• Registro de datos - registrar datos rápido y fácil 
• Académico - Su bajo costo permite que los alumnos sean propietarios de su 
propia tarjeta para sus cursos 
• Aplicaciones Embebidas 
• Adquisición de datos 
8 
Capítulo II USB-6008 
II.4 Conclusiones 
Presentamos en este capítulo las características principales de la tarjeta de adquisición 
USB-6008. Se presenta también el software que utiliza así como las características del 
hardware, configuración de puertos, alimentación, así como sus aplicaciones principales. 
Esta tarjeta es la que recibe todos los datos del componente a ser analizado y así poder 
determinar si dicho circuito integrado funciona correctamente. 
9 
Capítulo III Algoritmo y Pruebas 
Capítulo III 
Algoritmo y Pruebas 
III.1 Introducción 
Este capítulo trata principalmente de explicar el algoritmo y las funciones principales de 
cada etapa del programa. Como se mencionó anteriormente el proyecto está desarrollado 
en LabVIEW, el cual es un lenguaje gráfico, por lo que el código está basado en bloques, 
donde cada uno realiza funciones diferentes dentro del programa. También se explica la 
forma en que se realizaron las pruebas durante el desarrollo del proyecto. 
III.2 Algoritmo 
El sistema está conformado por una etapa de hardware y una de software como ya lo 
mencionamos anteriormente. Este programa es el encargado del procesamiento de los 
datos y el análisis del funcionamiento de los circuitos integrados, por lo cual es una pieza 
fundamental del sistema y es por esta razón que consideramos que el algoritmo que 
desarrollamos para el programa es muy importante y es crítico que sea eficiente y 
funcione de manera correcta. A continuación se muestra el algoritmo que desarrollamos 
para nuestro sistema, así como las características que este algoritmo debe incluir para 
lograr cumplir con los objetivos establecidos para el sistema. 
La primera característica necesaria era diseñar un sistema modular que permitiera 
integrar todas las funciones requeridas y que sea fácilmente escalable, es decir que en un 
futuro se puedan agregar nuevas funciones y componentes, sin necesidad de realizar 
cambios radicales al programa. Debido a que es modular no es necesario que el 
programador entienda todo el programa a fondo para realizar los cambios o adiciones de 
componentes o funciones, solo se debe de enfocar al bloque donde se establecen las 
características del nuevo componente, es decir sus entradas, salidas, tablas de verdad, 
etc. 
Fue necesario implementar una interfaz lo más amigable posible para el usuario, con la 
cual no tuviera que preocuparse por lo que pasa dentro del programa, es decir, es una 
aplicación transparente para el usuario. El usuario no debe estudiar previamente algo 
para que pueda hacer uso de esta herramienta, debido a que la interfaz es muy sencilla e 
intuitiva. Básicamente el usuario tiene que seleccionar el circuito integrado que quiera 
probar, iniciar el proceso y recibirá la respuesta en la pantalla sobre el funcionamiento del 
circuito integrado, el usuario no tiene que introducir información sobre el componente que 
va a probar, solo lo selecciona y se realiza la prueba, lo cual consideramos que es muy 
importante, porque sería muy tedioso para el usuario tener que introducir al programa las 
características del componente a probar y consideramos que alejaría al usuario de nuestro 
sistema, ya que sería poco práctico y eficiente. 
10 
Capítulo III Algoritmo y Pruebas 
Para la realización del programa se pensó en un algoritmo dividido en 4 etapas que 
realizan todo el proceso de prueba de manera transparente para el usuario y modular 
para futuros programadores. Estas 4 etapas se muestran en la Figura III.1: 
• Recepción 
• Configuración 
• Procesamiento 
• Resultados 
Figura III.1. Algoritmo del programa 
Estas 4 etapas son las que conforman a nuestro algoritmo y a continuación se describe 
cada etapa a detalle, se muestran las funciones y resultados de cada una de las etapas. 
Recepción 
Esta etapa consiste principalmente en diseñar la interfaz del usuario así como la selección 
de la compuerta a ser analizada. La interfaz consiste en un menú de selección (1) el cual 
permite la selección del componente que se quiere probar. También se muestra la 
configuración de los puertos de la tarjeta de adquisición (2), es decir, se muestra el 
estado de entrada o salida de cada puerto. Esta configuración de pines de entrada/salida 
es solo un aspecto estético, debido a que esta configuración se realiza en el programa en 
la siguiente etapa de manera automática dependiendo del circuito seleccionado en esta 
etapa por el usuario y en la interfaz gráfica solo se muestra como quedó configurada la 
tarjeta de adquisición de datos, pero no se permite su modificación ya que esto podría 
causar problemas en las siguientes etapas. 
Una parte muy importante de la interfaz gráfica es el cuadro donde se despliega un 
mensaje con los resultados del análisis del componente elegido (3). Después de que el 
usuario selecciona el componente a probar mediante el menú mencionado anteriormente 
debe de oprimir el botón de "Run" (4) para ejecutar la prueba y posteriormente sólo 
queda esperar a que el programa termine de realizar el análisis, se detenga y muestre los 
resultados de la prueba en el cuadro correspondiente. 
Es muy importante mencionar que una vez iniciada la aplicación no se podrá hacer 
cambios en la selección del componente, sino hasta que termine de ejecutarse, repitiendo 
el mismo proceso ya mencionado. 
11 
4 
1 
Capítulo III Algoritmo y Pruebas 
Internamente esta etapa realiza una función muy importante para el correcto 
funcionamiento del sistema, esta función es que cuando el usuario ha seleccionado un 
componente del menú, el programa almacena un número identificador de dicho 
componente, para usarlo como referencia en las siguientes etapas, es decir, este número 
de identificación nos permite seleccionar la configuración del componente a probar, sus 
tablas de verdad y todas aquellas características necesariaspara realizar la prueba. 
A continuación se muestra en la Figura III.2 la interfaz del usuario. 
3 
.._7NATIONAL f" 1NSTRUMENTS 
Figura III.2. Interfaz de Usuario 
Configuración 
La siguiente etapa es la de configuración y es importante mencionar que a partir de esta 
etapa todo el proceso es ejecutado automáticamente y sin intervención del usuario, es 
decir que el usuario sólo interviene en la selección de componente e inicio de la prueba. 
Es en esta etapa donde está implícita la importancia del número identificador mencionado 
anteriormente, ya que es aquí donde es utilizado para la selección de tablas que definen 
cuales serán pines de entrada o salida para el análisis. Este es un paso necesario ya que 
no todos los componentes tienen la misma configuración de pines, por ejemplo, existen 
componentes de dos entradas-una salida, de tres entradas-una salida, de una entrada-
una salida, entre otras, por lo tanto para que las pruebas sean satisfactorias y sobre todo 
libres de intervención por parte del usuario es necesario hacer distinción entre cada 
componente dependiendo de su configuración de pines de entrada/salida. Otro punto 
muy importante a realizar en esta etapa es la selección de tablas de combinaciones 
lógicas a probar durante el análisis, ya que de estas tablas es de donde obtendremos las 
referencias para comparar los resultados obtenidos con los reales, que dependen del 
número de entradas que se tenga y la función lógica con la que cumple el componente 
seleccionado. Para esta selección de tablas también interviene el número identificador, 
de aquí la importancia que tiene esta variable en nuestro sistema. 
12 
2 
Capítulo III Algoritmo y Pruebas 
Procesamiento 
Es la etapa más crítica del programa porque es la que realiza todas las pruebas del 
circuito integrado, determina si el circuito funciona de manera correcta y se mandan los 
resultados a la siguiente etapa para que sean desplegados al usuario mediante la interfaz. 
Es importante mencionar que las etapas anteriores permiten realizar las pruebas de 
manera correcta, ya que sin la configuración de pines correcta y las tablas de verdad del 
componente a seleccionar las pruebas no se podrían realizar. El proceso que se sigue para 
realizar las pruebas es el siguiente: lo primero que se hace es tomar la combinación lógica 
a probar y hacer la actualización del estado de los puertos con estos datos. La 
actualización consiste en lectura y escritura de los puertos según su configuración. Todo 
este proceso se realiza tantas veces como combinaciones haya, otro dato obtenido de las 
etapas anteriores. Los datos obtenidos de la actualización se comparan con el respectivo 
valor de las tablas de verdad, las cuales se encuentran ya almacenadas en el programa 
para cada circuito integrado con el fin de que el usuario no intervenga en el proceso más 
que en la selección del componente que quiere probar. 
Una vez realizadas todas las combinaciones se almacena un valor de error por cada 
salida, el cual nos indica si hay o no fallas en el funcionamiento del circuito. Este es el 
valor que se envía a la siguiente etapa para desplegar los resultados finales del análisis. 
Como podemos ver, esta etapa es la que realiza la parte más fuerte del proceso de la 
prueba, además de que interacciona con las otras 3 etapas del programa para lograr el 
objetivo de realizar una comprobación efectiva. 
Resultados 
Esta etapa se encarga de mostrar los resultados de la prueba en la interfaz gráfica, de 
manera que el usuario pueda decidir si utilizará el circuito integrado que probó con el 
sistema. Este despliegue de resultados lo realiza a partir del valor de error obtenido en la 
etapa de procesamiento. El mensaje que se despliega muestra los pines de salida que no 
funcionan correctamente, si se da el caso de que no funcione alguna de las compuertas 
del circuito integrado, pero en caso de que toda la compuerta funcione también se nos 
indica mediante un mensaje que muestra que el circuito funciona correctamente y no 
muestra los resultados de cada uno de los pines de salida, debido a que todos 
funcionaron correctamente al recibir este mensaje. 
III.3 Pruebas 
El desarrollo del sistema fue un largo proceso que constó de muchas pruebas, tanto de 
software como de hardware. Las primeras pruebas que realizamos fueron del software 
LabVIEW, para comprobar su funcionalidad, familiarizarnos con las diferentes opciones 
que presenta, así como aprender a programar en el lenguaje G que, como ya se ha 
mencionado anteriormente, es el que utiliza LabVIEW para realizar los programas. 
Posteriormente se comenzaron a realizar pruebas con la tarjeta de adquisición, para 
poder conocer su funcionalidad, el manejo de los pines, su configuración y lo que 
consideramos más importante, los procesos de lectura y escritura, ya que era básico 
dominar estos procesos para poder realizar el programa. Inicialmente utilizamos algunos 
códigos de ejemplo para conocer como se realizaba la programación de la tarjeta. 
Después empezamos a hacer nuestros primeros programas básicos para manejar los 
13 
capítulo III Algoritmo y Pruebas 
procesos de entrada/salida, primero independientemente y posteriormente en conjunto, 
para saber como utilizarlos en la hora de desarrollar el sistema final. 
Después de estas pruebas iniciales, ya con un dominio tanto del software LabVIEW así 
como del manejo de la tarjeta de adquisición, el siguiente paso era la implementación del 
algoritmo mostrado anteriormente. Esta implementación fue la etapa más compleja y 
extensa del desarrollo del proyecto, ya que conforme avanzábamos nos íbamos topando 
con nuevas funciones de LabVIEW que teníamos que estudiar a fondo para lograr 
resolverlas y utilizarlas de la mejor manera. 
La primera parte de la implementación consistió solamente en la prueba de una sola 
compuerta del circuito integrado, ya que, gracias a la modularidad del sistema, una vez 
que la comprobación de una sola compuerta de un circuito integrado en específico 
funcionara correctamente, la programación de las demás compuertas y circuitos 
integrados sería un proceso relativamente más sencillo. 
El circuito integrado que se utilizó para las pruebas iniciales fue un 7408. Se partió, como 
ya se dijo, probando con una sola compuerta del integrado para definir el método a seguir 
para las pruebas. Las primeras pruebas se realizaron comparando los resultados de cada 
combinación lógica probada con su respectivo resultado en la tabla de verdad, es decir, se 
probaba combinación por combinación, pero en este punto aún no se establecía si la 
compuerta funcionaba correctamente a partir de los resultados de cada combinación. 
Precisamente esta funcionalidad fue el siguiente paso del sistema, ya que después de 
comprobar el funcionamiento de cada una de las combinaciones lógicas proseguimos a 
realizar la prueba de la compuerta completa para determinar su estado y decir si la 
compuerta funcionaba o no. 
Después de lograr probar la compuerta completa, el siguiente paso fue hacer la prueba 
del integrado en su totalidad, punto que básicamente está definido en nuestros objetivos 
y es la finalidad del sistema, comprobar la funcionalidad del circuito integrado de manera 
integral. Para lograr este paso nos basamos en el módulo que utilizamos para la prueba 
de una compuerta, realizando el número de iteraciones necesarias para cada integrado de 
acuerdo a su tabla de combinaciones lógicas, haciendo algunos cambios menores, por 
ejemplo, la configuración de los pines con los que trabajaba, entre otros. Con esto se 
arma el módulo completo del programa para la prueba de un circuito integrado en todas 
sus compuertas. El mensaje que se despliega es por cada pin de salida en caso de que 
exista algún error, pero si el circuito integrado funciona de manera correcta solo se 
muestra un mensaje general. De esta manera el usuario decide si usar el circuito o buscar 
otro que sirva en su totalidad. 
El mensaje que se muestra enla Figura 111.3 es un ejemplo donde algunos de los pines 
de salida no funcionan correctamente. 
Resultados de las Salidas 
Pin 2 no funciona 
Pin 4 no funciona 
Pin 6 no funciona 
Pin 8 no funciona 
Pin 10 no funciona 
Pin 12 no funciona 
14 
capítulo III Algoritmo y Pruebas 
Figura IIl.3. Mensaje 
La Figura III.4 presenta un mensaje donde el circuito integrado funciona correctamente. 
111.4 Conclusiones 
Resultados de las Salidas 
'Chip Funciona 
, Correctamente 
Figura III.4. Mensaje 
En este capítulo se mostró el algoritmo que se utilizó para cumplir con el objetivo y para 
la implementación del programa. Básicamente este algoritmo se divide en cuatro etapas 
las cuales son: recepción, que se encarga de la interfaz y selección de la compuerta a 
analizar; configuración, que define pines de entrada y salida, así como combinaciones y 
tablas de verdad; procesamiento, que hace la comparación del circuito con las tablas 
previamente definidas; y resultados, que despliega mensajes respecto al funcionamiento 
del circuito. 
También se mostró la forma en que se llevaron a cabo las pruebas durante la realización 
del sistema, desde la utilización del software LabVIEW y la tarjeta de adquisición hasta la 
programación del programa principal, así como los distintos mensajes que se pueden 
presentar dependiendo del estado del circuito. 
15 
Capítulo IV Requerimientos y Ventajas 
Capítulo IV 
Requerimientos y Ventajas 
IV.1 Introducción 
Este capítulo trata principalmente de explicar los requisitos indispensables para poder 
utilizar el Sistema Verificador de Componentes Electrónicos. También se presenta una 
comparación con otros dispositivos cuya función es la misma. Finalmente se trata las 
ventajas que tiene este sistema verificador con respecto a otros que están en el mercado. 
IV.2 Requerimientos del Sistema 
El Sistema Verificador de Componentes Electrónicos esta conformado por dos partes, 
como ya se ha mencionado anteriormente, el hardware y el software. Para que estas dos 
partes funcionen de manera correcta existen algunos requerimientos que se deben 
cumplir para que se logre el funcionamiento del sistema, estos requerimientos son: 
Computadora personal con puertos USB, procesador Pentium 3 y posteriores, 
memoria RAM de 128 MB (De preferencia portátil para que el sistema se pueda 
utilizar en cualquier laboratorio o lugar de trabajo) 
Software LabVIEW para ejecutar el programa (Se puede utilizar la versión 
estudiantil, que es gratuita.) 
Tarjeta de adquisición de datos USB-6008 de NI. (Costo aproximado de $1600 
pesos) 
Estos tres elementos son lo mínimo necesario para poder utilizar el sistema de manera 
satisfactoria. En cuanto al software LabVIEW también se puede utilizar la versión 
comercial si se requiere una funcionalidad mayor, pero teniendo en cuenta que la versión 
comercial más básica tiene un costo de aproximadamente $1000 dlls, por lo cual es muy 
importante analizar las funciones que se necesitan y definir si la relación costo-beneficio 
es conveniente para adquirir el software comercial. 
16 
Capítulo IV Requerimientos y Ventajas 
IV.3 Comparación 
Investigando dispositivos que tuvieran la misma función que el nuestro encontramos 3 
que cumplen con los objetivos de nuestro sistema, a continuación mostraremos los 
detalles de cada uno y los compararemos con el nuestro para definir nuestra ventaja 
competitiva sobre los demás dispositivos. 
• Programador Universal Elnec Labprog+ 
Este programador fue diseñado por Kyhe Ingeniería en España. Además funciona también 
como probador de memorias SRAM, integrados CMOS y TIL. Tiene un costo de € 
626.72.(Ver Figura IV.1) 
Figura IV. l. Programador Universal Elnec Labprog+ 
• Verificador IC Portátil Digital Electronix Express 
Es un verificador de componentes CMOS y TIL. Es diseñado por Electronix Express. 
Tiene un costo de $165 dlls. (Ver Figura IV.2) 
1 • 
Oliiul 1 ' ·r. ter 
,,. r 
~
º"'* ":::r • 
1 ; . ñ "'" :., kl .,, O't.A.V _. -
Figura IV.2 Verificador IC Digital 
17 
Capítulo IV Requerimientos y Ventajas 
• Verificador BK Precision 
Sistema verificador de TIL, CMOS, LSI, memorias, entre otros. 
Es diseñado por BK Precision y tiene un costo se $957.65 dlls. (Ver Figura IV.3) 
Figura IV.3 Verificador BK Precision 
Costo Funciones Expandible Alimentación Conectividad 
(pesos) 
Programador $8764 Programador y No Corriente AC de Puerto paralelo 
universal Elnec verificador de 220V 
Labprog+ memorias 
SRAM, CI 
CMOS yTIL 
Verificador IC $1815 Verificador de No 4 baterías AA o Ninguna 
Portátil Digital CI CMOS y TIL corriente Alterna 
Electronix de 127V 
Exoress 
Verificador BK $10527 Verificador de No 4 baterías AA Ninguna 
Precision TIL, CMOS, 
LSI y 
memorias 
Sistema Verificador $1600 Verificador de Si Energía Puerto USB 
de Componentes CI TIL suministrada por 
Electrónicos (Actualmente) el puerto USB 
Tabla IV.1.- Comparativa de los sistemas verificadores 
En la tabla IV.1 podemos ver un panorama general de los sistemas verificadores que se 
encuentran comercialmente y cumplen con los objetivos de nuestro sistema, pero 
podemos ver que nuestro proyecto tiene algunas ventajas muy importantes respecto a los 
otros dispositivos. La primera ventaja que consideramos muy importante es el costo, ya 
que nuestro sistema es el más económico de los 4 mostrados, siendo seguido muy de 
cerca por el dispositivo de Electronix Express, pero también podemos ver que este 
sistema es muy limitado, ya que sólo agrega la funcionalidad de dispositivos CMOS, pero 
no es expandible y requiere baterías para su funcionamiento, por lo cual su costo a largo 
plazo es mayor y la diferencia de costo se vuelve notoria. 
18 
Capítulo IV Requerimientos y Ventajas 
La segunda ventaja que encontramos es que nuestro sistema es expandible, es decir, que 
se le pueden agregar nuevos componentes, lo cual lo hace más poderoso a futuro, ya que 
se puede actualizar respecto a las nuevas tecnologías que surjan en el futuro sin tener 
que adquirir nuevamente todo el sistema y de esta manera también se reducen los costos 
a largo plazo. Otro aspecto importante es que mediante el hardware y el software se 
pueden realizar muchas funciones que no están relacionadas con la verificación de 
componentes y esto es una ventaja competitiva muy importante para los clientes, ya que 
además de utilizar el sistema como un verificador se puede utilizar en otros proyectos sin 
ningún problema, aspecto que ninguno de los sistemas comerciales es capaz de realizar. 
Finalmente está el aspecto de las baterías y la conectividad, las baterías a largo plazo 
aumentan costos y además existe la posibilidad de que se descarguen y no puedas 
trabajar mientras consigues unas baterías nuevas o las recargas en el caso de las baterías 
recargables. El aspecto de conectividad es también muy importante, ya que como 
podemos ver sólo uno de los 3 sistemas comerciales permite conectividad con la PC pero 
lo hace mediante el puerto paralelo que cada vez se encuentra menos en las 
computadoras actuales, lo cual es una desventaja, ya que hay que comprar adaptadores y 
estos aumentan el costo y a veces no funcionan correctamente, a diferencia del puerto 
USB que se encuentra en cualquier computadora actual y se encuentra en pleno auge. 
IV.4 Conclusiones 
En este capítulo se presentaron los requerimientos principales para que trabaje el sistema 
verificador. Estos requerimientos son los mínimos que el sistema necesita para su correcto 
funcionamiento. También se mostró una comparación con otros sistemas verificadores 
con funciones similares, así como las ventajas competitivas que tiene nuestro sistema con 
respecto a estos sistemas. 
19 
Conclusión general 
Conclusión general 
El Sistema Verificador de Componentes Electrónicos fue completado en su totalidad en su 
fase inicial, la cual es la que se tenía planteada para esta primera etapa del proyecto. Se 
tiene una base de datos para los circuitos integrados combinacionales más importantes,que es lo suficientemente amplia para cubrir las necesidades de circuitos combinacionales 
para casi cualquier proyecto. 
El sistema tiene una interfaz muy simple y fácil de utilizar. El usuario no requiere de 
mayor preparación o estudio del software para poder aprovecharlo, ya que la misma 
interfaz permite un manejo intuitivo del programa. Sólo es necesario elegir el número del 
componente que se quiere probar y que previamente se colocó en la base de la tarjeta de 
adquisición, y presionar el botón de Run, y todo el procesamiento y configuración extra 
que sea necesaria se realiza de manera totalmente interna y transparente al usuario, y el 
proceso se detendrá por si mismo una vez acabado. 
Al final sólo se muestra en un cuadro de texto el resultado del análisis realizado, 
indicando si el circuito integrado funciona correctamente, o en su defecto, indica si no 
funciona, marcando específicamente los pines de salida que son los que no funcionen, ya 
que puede que sólo alguna parte del integrado esté dañada y lo demás funcione 
correctamente. Con esta información, es decisión del usuario si un componente con 
algunas de sus terminales dañadas le es útil para su aplicación, o si debe desecharlo y 
utilizar uno que funcione correctamente en su totalidad. 
La parte de hardware también resultó muy sencilla para el usuario. Sólo necesita tener 
una computadora, de preferencia portátil para aprovechar la ventaja de portabilidad del 
dispositivo, la cual tenga el software LabVIEW y el software del Sistema Verificador de 
Componentes Electrónicos. La tarjeta de adquisición de datos que ya tiene conectada un 
bus de líneas que son las entradas y salidas digitales que van a la base donde se colocan 
los componentes a probar, de forma muy similar a lo que sería un programador de 
microcontroladores. Una vez colocado el integrado sólo hay que correr la prueba y 
esperar el resultado. 
En esta etapa en que se encuentra el proyecto, su principal uso será para laboratorios de 
estudiantes de ingeniería electrónica, inicialmente del campus donde se realizó el 
proyecto, y a futuro podría llevarse a otras universidades. Sería de mucha utilidad ya que 
en los almacenes de laboratorios se tiene muchas veces componentes quemados por el 
mal uso que le dan los estudiantes, y siguen guardándose por mucho tiempo sin saber 
que no funcionan. Con este sistema fácilmente se puede identificar los que no funcionan y 
desecharlos, tanto por parte de las personas que atienden el almacén, como por los 
alumnos que en ocasiones pierden mucho tiempo al realizar sus prácticas al estar 
utilizando algún componente que no funciona sin darse cuenta sino hasta mucho tiempo 
después. 
Una vez que el sistema estuviera finalizada con todas sus etapas, podría pensarse en 
venderse como una aplicación comercial, pues aunque hay algunos dispositivos con 
características similares en el mercado, este tendrá la ventaja de que integra muchas 
funciones para probar un amplia gama de componentes, a un costo relativamente bajo, 
20 
Conclusión general 
sobre todo si se compara con el que pueden llegar a tener otros dispositivos probadores 
que incluso tienen funciones más limitadas. Sólo sería necesario como hardware la tarjeta 
de adquisición de datos y la base, e incluso la tarjeta puede cambiarse por una con 
capacidades menores pero que cumplan con lo requerido para que funcione el sistema, 
logrando reducir el costo del sistema con esto. Una limitación que tiene el sistema es que 
debido a que la tarjeta utiliza puerto USB como interfaz, es imposible medir tiempos de 
respuesta por la lenta velocidad de adquisición de datos. Si se pudiera cambiar por otro 
tipo de interfaz como tarjetas PCI con velocidades de muestreo mucho mayores, entonces 
si se podría pensar en medir tiempos de respuesta de los componentes a probar. 
Dado que los objetivos planteados inicialmente pudieron ser cumplidos, ahora se puede 
pensar en la parte de trabajo a futuro que es necesaria para completar el sistema, y 
obtener una aplicación mucho más completa y útil, prácticamente por el mismo costo, lo 
cual es una ventaja extra para el sistema. Como siguiente etapa se sugiere implementar 
la prueba de circuitos secuenciales, los cuales tienen una mayor complicación debido a 
que su salida depende no sólo de la entrada sino también del estado anterior, además de 
que requieren de una señal de reloj para su funcionamiento, la cual también debe ser 
implementada. Después de esta etapa, vendría el poder hacer pruebas ya con circuitos 
analógicos, como amplificadores operacionales, o con elementos electrónicos como 
transistores y diodos. Aquí habrá que hacer uso de las entradas y salidas analógicas de la 
tarjeta de adquisición de datos para estas pruebas, y probablemente sea necesario algún 
arreglo de resistores para las pruebas con transistores, que permitan medir los voltajes y 
corrientes para determinar sus características como por ejemplo su valor 13 (beta). 
21 
Referencias 
Manual LabVIEW v 7.1 
Manual TIL 
Sokoloff,Leonard Applications in LabVIEW 
Upper Saddle River, N.J. Pearson Prentice Hall, 2004 
502 pp. 
Bishop, Robert H Learning w1th LabVIEW 7 express 
Upper Saddle River, N.J. Pearson Prentice Hall, 2004 
571 pp. 
Travis, Jeffrey LabVJEW far everyone 
Upper Saddle River, N.J. Prentice Hall, 2002 
589 pp. 
http://en.wikipedia.org/wiki/Labview 
http://www.ni.com/labview/esa/ 
http://sine.ni.com/nips/cds/view /p/lang/en/nid/14604 
Referencias 
Anexos 
Anexos 
Aceptado en el "World Congress on Computer Science, Engineering and Technology Education 2006" 
artículo #119 
Coo eración Técnica 
<O>IEEE 
Europe-an Soclety tor 
Engineedn Education 
""TERTE"CH 
~ --- -::::,...__::..,.. 
,.Mlliei, , 
l""'"''"'""'"•,..,•,un1111J 
¡,, ,,,r,.,,..,,.,,/fl·,nr""":•dr /11/,,1:,11,,·r,., 
AENUI 
lnstitute of Electrical and 
Electronics En ineers (IEEE) 
Education 
sociación de Enseñantes 
Universitarios de la Informática 
(AENUI) 
Porto Gente 
Brazilian Nucleus of 
Environmental Researches 
(NBPAS) 
Fishin Museum Friends 
Societ (AAMP) 
COMPUTERIZED ELECTRONIC COMPONENT TESTER 
Fluvio /,ucio Ponlecorvo 1, Pedro I'once ::. José Ramón Álvarez 3, Marco Tulio Gon::.alez"'. Paulina 
Cuel!ar5. Alfredo Cutierrez6, EdKar Borroe!7 
Ahitract - This /JClper examines a .rnlution to test hasic 
electronic component.1· in a Mexican university electrical 
lahoratury. One of' the main prohlems 11·e are constantly 
faced in the electrical lahoratories is the signi/irnnt amount 
of'damaged electrical components (resistor.\', transistor.1·, !C. 
etc) in stock. The proposed, analy:ed cmd tested solution 
invofre.1· a computeri:ed /ester. 1rith common data 
acc¡uisition so/iware. The .fi111clamental challenge in our 
lahoratories is that they are 1101 as we/1 ec¡uipped as they are 
in a developed co111111:1•. Other challenges .fúcecl in the 
lahoratories are mainly in the administrative di[ficulties that 
we have to gel new hasic electrical component.1·. The work 
was done as a final one semester electrical engineering 
project. 
/ndex Terms - ( 'omhinational logic, circuit /ester, Lahview, 
Data acquisition 
INTRODUCTION. 
In this article, a computcrized combinational logic circuit 
tcstcr is presented. There are always non functioning logic 
circuits in thc laboratory. Problems when troubleshooting 
electronical circuits basically are: incorrect wiring and non 
lunctioning componcnts. Thcre is not a simple too) that can 
test logical circuits, as there is for othcr components (for 
example ohmmeter, bridges, curve tracer, etc.). To simplify 
the testing of logical circuits a computerized logic tester is 
designed. 
PROJECT REQUEST. 
The Electrical and Electronical engineering department at 
thc Instituto Tecnológico y de estudios superiores de 
Monterrey, Mexico City Campus (known in Mexico as 
ITESM-CCM or Tec de Monterrey- CCM or "el Tec-CCM) 
had a project request for a "device that tests various 
electronic components" in our laboratories.The main 
objective for this project is to "make sure that most of the 
components in our laboratories are functioning properly". 
There is sorne leeway in the selection of components to be 
tcsted. 
PROPOSAL. 
In this work a proposal is made to test logic circuits using 
data acquisition hardware and software. A solution will be 
presented to test electronic components in three parts. The 
logic components were TTL circuits [ 1,2 J. 
Combinational logic components. 
Sequential logic components. 
Yarious circuits (mainly operational amplifiers). 
The project is divided in three parts because of the limited 
time that was available to complete the project in a one 
semester computer engineering final course at the ITESM-
CCM .. Each project parl will consist of severa] components 
to be tested. A database will be generated. 
SOLUTION. 
The preliminary solution proposed is based on a USB data 
acquisition product (figure 1) made by NATIONAL 
INSTRUMENTS, and LABVIEW f 3,4,5] software. This 
card was chosen for its case of use, mainly that you "only 
need a laptop". The software and the hardware were chosen 
because of the availability of the products in our university. 
The results presented in this paper are for the first part. The 
1 Flavio Lucio Pontecono. Instituto Tecnológico y de estudios superiores de Monteney. Calle del Puente 222. México DF. 
Mexico.1-BXll.pontccono(a itesrn.111.x.lucio.pontecorvo(a g111ail.com 
2 Pedro Ponce. Instituto ·rc-cnolúgico y de estudios supcrion:s de Montcney. Calle dd Puente 222. México DF. Mcxico.14)80.pedro.poncera itcsm.rnx 
.l José Ramón Álvara., Instituto Tecnolúgico y de estudios superiores de Monteney. Calle dd Puente 222. Máico DF. Mexico.14380. rhada'.a itesm.mx 
4 Marco Tulio Go111.ile1. Instituto Tc·cnoh'1gico y de estudios superiores de Montcney. Calle· dd Puc·nte 222. Máico DF. 
Mexico.14380.margonzalezla itesm.mx 
5 Paulina Cucllar. Instituto Ternolúgico y de estudios superiores de Monteney. ( '.ille del Puente 222. Mc'xico DF. Mexirn.14.180. 
(, All"redo Gutierre1. Instituto Tecnológico y de estudios superiores de Monterrey. Calle dd Puente 222. México DF. Vkxirn.14.180. 
7 J:dgar Borroel. Instituto Tecnolúgico v de estudios superiores de Monteney. Calle dd Puente 222. Méxicn DF. Mexirn.14380 
)'i 
solulion to the other two parts will be started in January 
2006. The first prototype of the projecl is due mid 
November. With a final presentation towards the end of 
No\'ember 2005. A set of about 10 (the gates available in the 
laboratories stock) logic TTl. gates were chosen. 
l3asic lwo-input gates (nand. and. or, nor, exor).,three input 
gates. various additional gales. [ 1,2] 
The tests done on each circuit gate are just lhe logic part. 
The tesis now do not include electrical tests (i.e. tan oul, 
speed response, etc). There is a lot of work still to be done 
on this part of the project. 
fig.1 National Instrumcnts usb data acquisition device.[61 
PRELIMINARY RESUL TS. 
The results obtained so far are very good. A database was 
made for severa] logic components. The logic tests 
perfom1ed on hundrcds of logic gates are very successful. 
Figure 2 shows the test screcn. In this case a 7400 gate 1s 
device under test. The circuit is working corrcctly. 
Co"l)Uerta 
J 74_00 
7408 
7432 
7404 
stop , 
is1;P1 ' 
fig. 2 computer screen showing the test in a 7400 gate. 
Figures 3,4 and 5 show the case of the graphical device 
programmmg. 
1.--:::" ::- ,,., ... -J 
j --·" ...... ··-· 1 
!,-'-'-'-.!.'.'"" .. J 
pe•~:·• •I 
tg·,:,:.·· 1 
. ··n,·::~~=f tt':~:·.··,r··=··-~I 
~_.-.. -, .. ,_"1 ILr1d--
El · j~·,· JIHf ii"· ., ...... 11 
lig. 3 part or lhc device graphical sortware. 
.26 
í 
- ::; 
¡ 
[;] 
-1 
'" 
1 
1 
1 
-'--- - t-~-!' 
[iJ 
fig. 4 device graphical software. 
fig. 5 device graphical software. 
CONCLUSIONS. 
From the results obtained so far on the first part of this 
project, Lhe importance of a laboratory componen! tester is 
clearly secn. More laboratory projects are finished in time 
because the students only have to troublcshoot thcir dcsign 
and do not use precious time verifying that thc logic gates 
are working This project will be continued next semestcr. 
The dalabasc will include more components. 
FUTURE WORK. 
This is an ongoing project. More logic circuits will he added 
during thc next couple of semesters. The preliminary 
timetahle will he to add sequential TTL circuits during the 
January-may 2006 period. Alkr that discrele components 
(transistors) will be added. Different values \\ i ll he mcasured 
on those components. A change to a PC card (PCI bus) is a 
distinct possihility. With card much raster acc.¡uisition Limes, 
Lransienl and responses can he analyzed. 
ACKNOWLEDGMENTS. 
We would like Lo thank the Electrical and Electronics 
Engineering Dcpartment of the Instituto Tecnológico y de 
Estudios Superiores de Monterrey, Mexico City Campus, 
Lhe ELECTRONIC LABORATORY STAFF and 
NATIONAL INSTRUMENTS for their supporl in this 
project. 
REFERENCES. 
[ I] Texas lnstrumcnts, ""ITL logic Jatahook" va1ious ycars. 
[2] National Scmiconductors, ""ITL Logic datahook". various ycars. 
13] National lnstru1m:nts, --NI-DAQ mx Base 1.x" .. 2004. ( 
[4] National lnslru1m:nls, "Lahvicw 7 cxprcss ... apr. 03. 
[5] Nalional lnstrumcnts, "mcasurcmclll anJ automation catalog". 200 
[61 Nalional lnstruments, wch pagcs, oct. 2005 
27 
® MOTOROLA 
QUAD 2-INPUT NANO GATE 
• ESO > 3500 Volts 
Vcc 
GUARANTEED OPERATING RANGES 
Symbol Parameter 
Vcc Supply Voltage 
TA Operating Ambient Temperature Range 
IQH Output Current - High 
10L Output Current - Low 
54 
74 
54 
74 
54. 74 
54 
74 
FAST ANO LS TTL DATA 
5-2 
Min 
4.5 
4.75 
-55 
o 
SN54/7 4LS00 
QUAD 2-INPUT NAND GATE 
LOW POWER SCHOTTKY 
!!rS~ ~~¡ 
14 
e 
J SUFFIX 
CERAMIC 
CASE 632-08 
N SUFFIX 
PLASTIC 
CASE 646-06 
D SUFFIX 
SOIC 
CASE 751A-02 
ORDERING INFORMATION 
SN54LSXXJ Ceramic 
SN74LSXXN Plastic 
SN74LSXXD SOIC 
Typ Max Unit 
5.0 5.5 V 
5.0 5.25 
25 125 e 
25 70 
-0.4 mA 
4.0 mA 
8.0 
28 
® MOTOROLA 
QUAD 2-INPUT NOR GATE 
Vcc 
GUARANTEED OPERATING RANGES 
Symbol Parameter 
Vcc Supply Voltage 
TA Operating Ambient Temperature Range 
10H Output Curren! - High 
loL Output Curren! - Low 
GND 
54 
74 
54 
74 
54, 74 
54 
74 
FAST ANO LS TTL DATA 
5-6 
Min 
4.5 
4.75 
-55 
o 
SN54/74LS02 
QUAD 2-INPUT NOR GATE 
LOW POWER SCHOTTKY 
J SUFFIX 
CERAMIC 
CASE 632-08 
N SUFFIX 
PLASTIC 
CASE 646-06 
D SUFFIX 
SOIC 
CASE 751A-02 
ORDERING INFORMATION 
SN54LSXXJ Ceramic 
SN74LSXXN Plastic 
SN74LSXXD SOIC 
Typ Max Unit 
5.0 5.5 V 
5.0 5.25 
25 125 c 
25 70 
-0.4 mA 
4.0 mA 
8.0 
29 
® MOTOROLA 
HEXINVERTER 
Vcc 
GUARANTEED OPERATING RANGES 
Symbol Parameter 
Vcc Supply Voltage 
TA Operating Ambient Temperature Range 
IQH Output Current - High 
IOL Output Current - Low 
GND 
54 
74 
54 
74 
54, 74 
54 
74 
FAST AND LS TTL DATA 
5-10 
Min 
4.5 
4.75 
-55 
o 
SN54/74LS04 
HEXINVERTER 
LOW POWER SCHOTTKY 
~r·~ ~~¡ 
14 
e J SUFFIX 
CERAMIC 
CASE 632-08 
e ,~ 
141Yl 111 1 
N SUFFIX 
PLASTIC 
CASE 646-06 
D SUFFIX 
SOIC 
CASE 751A-02 
ORDERING INFORMATION 
SN54LSXXJ Ceramic 
SN74LSXXN Plastic 
SN74LSXXD SOIC 
Typ Max Unit 
5.0 5.5 V 
5.0 5.25 
25 125 c 
25 70 
-04 mA 
4.0 mA 
8.0 
30 
® MOTOROLA 
QUAD 2-INPUT ANO GATE 
Vcc 
GUARANTEED OPERATING RANGES 
Symbol Parameter 
Vcc Supply Voltage 
TA Operating Ambient Temperature Range 
IQH Output Current - High 
IQL Output Current - Low 
GND 
54 
74 
54 
74 
54, 74 
54 
74 
FAST AND LS TTL DATA 
5-14 
Min 
4.5 
4.75 
-55 
o 
SN54/74LS08 
QUAD 2-INPUT AND GATE 
LOW POWER SCHOTTKY 
o ,~ 
,41Yl 111 1 
J SUFFIX 
CERAMIC 
CASE 632-08 
N SUFFIX 
PLASTIC 
CASE 646-06 
D SUFFIX 
SOIC 
CASE 751A-02 
ORDERING INFORMATION 
SN54LSXXJ Ceramic 
SN74LSXXN Plastic 
SN74LSXXD SOIC 
Typ Max Unit 
5.0 5.5 V 
5.0 5.25 
25 125 c 
25 70 
-04 mA 
4 O mA 
8.0 
:, 1 
® MOTOROLATRIPLE 3-INPUT NAND GATE 
Vcc 
GUARANTEED OPERATING RANGES 
Symbol Parameter 
Vcc Supply Voltage 
TA Operating Ambient Temperature Range 
loH Output Curren! - High 
loL Output Curren! - Low 
GND 
54 
74 
54 
74 
54, 74 
54 
74 
FAST ANO LS TTL DATA 
5-18 
Min 
4.5 
4.75 
-55 
o 
SN54/74LS10 
TRIPLE 3-INPUT NANO GATE 
LOW POWER SCHOTTKY 
J SUFFIX 
CERAMIC 
CASE 632-08 
N SUFFIX 
PLASTIC 
CASE 646-06 
D SUFFIX 
SOIC 
CASE 751A-02 
ORDERING INFORMATION 
SN54LSXXJ Ceramic 
SN74LSXXN Plastic 
SN74LSXXD SOIC 
Typ Max Unit 
5.0 5.5 V 
5.0 5.25 
25 125 c 
25 70 
-04 mA 
~ o mA 
8.0 
® MOTOROLA 
QUAD 2-INPUT OR GATE 
Vcc 
GUARANTEED OPERATING RANGES 
Symbol Parameter 
Vcc Supply Vollage 
TA Operating Ambient Temperature Range 
10H Output Current - High 
loL Output Current - Low 
54 
74 
54 
74 
54. 74 
54 
74 
FAST AND LS TTL DATA 
5-43 
Min 
4.5 
4.75 
-55 
o 
SN54/74LS32 
QUAD 2-INPUT OR GATE 
LOW POWER SCHOTTKY 
lf¡Sliiffl 
14 W1f ~ ~ u 
o J SUFFIX 
CERAMIC 
CASE 632-08 
N SUFFIX 
PLASTIC 
CASE 646-06 
D SUFFIX 
SOIC 
CASE 751A-02 
ORDERING INFORMATION 
SN54LSXXJ Ceramic 
SN74LSXXN Plastic 
SN74LSXXD SOIC 
Typ Max Unit 
5.0 5.5 V 
5.0 5.25 
25 125 c 
25 70 
-04 mA 
4.0 mA 
8.0 
Low-Cost Multifunction DAQ for USB 
NI USB-6008, NI USB-6009 
• Small, portable multifunction data 
acquisition devices 
• 12 or 14-bit input resolution, 
at up to 48 kS/s 
• Built-in, removable connectors 
for easier and more 
cosl-eífective connectivity 
• 2 true DAC analog outpuls 
for accurate output signals 
• 12 digital 1/0 lines 
(TTL/LVTTL/CMOS) 
• 32-bit event counter 
• Student kits available 
Operating Systems 
• Windows 2000/XP 
• Mac OS X 
• Linux 
Recommended Software 
• LabVIEW 
• LabWindows/C:VI 
Measurement Services 
Software (included) 
• Nl-DAQmx Base 
• Ready-to-Run Data Logger 
NEW 
I __ 
,_., .... -,:.;;:.:::.. 
Input Resolution Max Sampling Input Rango Output Rosolution OulputRm Output Rango Digital UD 
Produd Bus Analog lnputs (bits) Rato (kS/s) M Analog Outputs (bits) (flz) M Lines 32-MCounlllr Triggor 
USB-6009 B SE/4 DI 14 48 11 to 120 2 12 150 O to 5 12 1 Digital 
USB-6008 ~ 2 10 ,1 to 120 150 '. lo 5 '2 01g11al 
' = s1ng e enae 1 erenl1a 
Hardware Description lnformation for Student Ownership 
The National lnstruments USl3-6008 and LJSll-6009 multi l"unction lo suppk111cnt sirnulation. 111casurc111cnt. ami au1omalio11 lheory 
dala acquisitio11 dc,tccs pro,idc reliablc dala acquisition at a low courscs with practica! cxpcrimcnts, NI has clc1clopccl thc USB-6008 
pricc. Wilh plug-and-play USB co11ncctt1ity. thcsc de1iccs are simple and USB-6009 sludent kits that includc Lah\·11-:w Studc11t Edition 
cnough for quick 111casurcmcnts, but 1crsattle cnough for more anda ready-to-run data loggcr application. These kits are exclusi,ely 
complex 111casure111e11t applications. for students. gr1111g thc111 a powcrful, low-cost hands-on learning 
1001. \'isit 111cn:11:,1'.ac!e1nir. for more dctails. 
Software Description 
Thc NI l Sll-6008 ami USB-6009 include a ready-to-run data lnformation for OEM Customers 
loggcr application that acquircs ami logs up lo erght channels of For information 011 specral configurations and pricin[!. picase 
analog data. For rnon: f'u11ctionality, NI-DAQrnx Base software is a I isit 11r.c:0111 0,'111. 
multiplatforrn dri,cr with a subset or the NI-DAQmx programming 
interface. Use il to de1t'lop customized DAQ applications with 
NI Lab\ IEW or C-hased de1elop111cnt em iro11rnents. 
Recommended Accessories 
The LJSB-600X a11CI l.Sll-6009 ha1e built-i11 co11ncct11ity, so 110 
additional accessorres are required. 
Common Applications 
rl1e lJSll-611118 a11d lJSJl-600') are ideal rora nurnbcr or applications 
whcrc cco11on1y. small sizc. a11CI si111plicit1 are cssential. such as: 
• Data lo~~ing 1 ,,g e111 iro11rrn:ntal or 1olta!!e cl;rta qurckh ami castl1 
• :\cackmic lab use lile low prrcc facilitatcs stude11t m1ncrshrp 
or D.-\Q hardware for completeh intcracli1c lab-ba,cd rnurscs. 
Acadcrnic pricrng ;11arlahlc \'isit ni.,>,111 .,, :«:-:·",'· ror cletails. 
• 1:mbeddcd 01:1\t applrcations 
Ordering lnformation 
NI LJSB-6008 1 ...•.•••.•••. • •• 779051-01 
NI USB-6009 1•••• . ..•.•.•.....• 779026-01 
NI lJSB-6008 Student-kit t., ............................. 779320-22 
NI USFl-6009 Studcnt-kit 1·' ••.•.•••••••••••••.••• 779321-22 
11ncludcs NI-Di\Qrnx Base Software, NI-Ready-to-Run 
Data Loggcr Software, anda USB cable. 
'lncludes LabVIEW S1udent Edition 
C,NATIONAL 
, INSTRUMENTS14 
Low-Cost Multifunction DAQ for USB 
Specifications 
Typical al 25 'C unless otherw-ise no!ed 
Analog Input 
Absolute accuracy, single-ended 
Typical a12i ·e (mV) 
!10 147 
Muimum (O to 55 'C) (mV) 
138 
Absotute accuracy al full scale, differential' 
Ranii• 'Jl¡pical al 25 'C (mVI Maximum (O to 55 ·e¡ (mV) 
,20 14.7 138 
t10 773 84 8 
t5 428 58.4 
±4 3 59 531 
12.5 2.56 45.1 
±2 221 42 5 
t125 170 38.9 
!1 1 53 37 5 
' lnpu1 voltages may no! erceed !he work1ng voHage range 
Number of channels 
Type ol ADC 
ADC resolution (bits) 
Devic, 
USs.6008 
USB·6009 
Ditrtrontial 
12 
14 
8 smgle-ended / 4 differenlial 
Successive approximation 
Sin le-Ended 
11 
13 
Maximum sampling rate (system dependen!) 
Dtvic1 Maximum Sampling Rate (kS/s) 
USs.6008 1 
USB·6009 
lnpul range. sm•ie-enaed 
Input range, d1fferenlial 
Maximum '#Orking voltage 
Overvoltage pro\ecuon 
FIFO buffer ~ze 
r,ming resolution 
Timmg accuracy 
Input lmpedance 
Trigger source 
SySlem no,se 
Analog Output 
Absolute accuracy ino :c.ao, 
Number al channe!s 
Type of DAC 
OAC resolution 
Maximum update rale 
Oulpul range 
Oulpul ,mpedance 
Ou1put curren\ drive 
Power-on stale 
Slew rate 
Short-orcurl curren! 
10 
48 
,10 V 
±20. ±10. !5 t4 !:2 5 ±2 ±1 25 ±1 V 
!10 V 
±35 V 
512 B 
41 67 ns !24 MHz timebase1 
100 ppm ol actual sample rale 
144ki1 
Software or externa! dig1lal lrigger 
O 3 LSB.-, lí10 V range) 
7 m'J typ1cal. 36 4 mV max1mum al ful! sca!e 
2 
Success1ve approximation 
12 brts 
150 Hz. soltware-bmed 
0 !O •5 V 
5012 
5 mA 
O V 
1 V/µs 
50 mA 
2 National lnstrumenls • Tel (800) 813-3693 • info@ni.com • ni.com 
Digital 1/0 
Number of channels i2 total 
8 (PO <O 7>) 
4 1Pl <O j>I 
D1rectKln r.ontrol 
Output driver type 
USB-6008 
USB-6009 
Each channel indiVJduaUy pr.Jgra,....rracle as inpul or oulput 
Ope:,.jra1n 
Each cliannel indrvidually prograrn:-:-iaoie as push-pull or 
cpen-drain 
Compalibrhly 
Interna! pull-up res1s1or 
Po.ver-on slate 
Absolute max1mum voltage range 
Digital logic levels 
L1v1I 
lnpul low wnage 
lnpul high wnage 
Input leakage curren! 
Oulpul low ""llage ¡I , 8 5 mA) 
Ouipul high wnage (Push-pull, 1 , -8.5 mA) 
CMOS TTL L'/TTL 
4 71(12 lo •5 V 
Input 1h1gh 1mpedarice1 
-O 5 lo •5 B 1.' 
Min 
-O 3 
2 O 
-
-
20 
Ou1pu1 high ""nage ¡Qpen-dra,n, 1, -0.6 mA narr,,n,11 2.0 
Ouiput high wnage (Open-drain, 1, -8.5 rnA. 
with external pul~up resrslor) 
Counter 
Number of counters 
Resolullon 
20 
32 brts 
Counter measurements Edge c.ounting {fallmg edge¡ 
PuU-up Resistor 4 7 kO: to 5 V 
Maximum mpul frequency 5 MHz 
Mmimum high pulse w1dth 100 ns 
Mimmum low pulse w1dth 100 ns 
lnpul h,gh ""ltage 2 O V 
Input low wttage O a V 
Power Available al 1/0 Connector 
•5 '.' oulpul ,,)00 mA max1mum:1 
~2 5 V outpul n rnA ma;ornl.im; 
~2s V outpul accuracy 
Voltage reference lemperature drifl 
Physical Characteristics 
+5 1, typ,cal 
~4 85 V mmimum 
~2 5 V lypic.al 
025 % max 
50 ppmi'C max 
lí you need lo clean !he mod:Jle. w1pe il w1th a dry towel 
D1mens1ons (wrthoul connec\Qrsi 
01mens1ons {wilh connec!ors1 
We1ght (wilhout conrieclorsi 
Weighl (w1lh connec1ors) 
110 Connectors 
6 35 by 8 51 by 2 l 1 cm 
12 50 by 3 35 by O 91,n 1 
818by851by231cm 
13 22 by 3 35 by O 9, ,n, 
59 g 12 1 02) 
84gi30ZI 
'. . .ISB series a receptac1e 
Max 
0.8 
58 
50 
08 
J.5 
50 
-
Screw-term1nal w1nng 
Screw-\erminal lorque 
12) 16-posrtion (screw-termmal) plugheaaers 
16 to 28 AWG 
0 22 to O 25 N .. m 
12 Q lo 2 2 lb .. m i 
Units 
V 
V 
µA 
V 
V 
V 
35 
1 
aj 
Low-Cost Multifunction DAQ for USB 
Bus lnteñace 
USB speClficabon 
USB bus speed 
Power Requirement 
USB (4 10 to 515 VDC) 
USB Suspend 
Environmental 
USB 1 O full-speed 
11 Mb/s 
80 mA lypical 
500 mA ma,:1mum 
300 µA lyp,cal 
500 µA max1murn 
The USB-6008 and USB-6009 are 1nlended for ,ndoor use only 
Operatmg Environmenl 
Ambienl temperature range 
Rerat1'Je humidity range 
Slorage Env1ronmen1 
Amb1en\ temperalure range 
Relahve humidity range 
Ma1imum altitude 
PoRulion Degree 
Certificalions and Compliances 
O lo 55ºC ,1es1ed in accordance w1th IEC-60068-2-1 
and IEC-60068-1-2 1 
10% to 90%. nan-condensing ¡1es1ed in accordance 
wilh IEC-60068-2-56 ) 
-40 lo 85 ºC (leSled ,n accordance w1lh IEC 60068-1-1 
and IEC-60068-1-11 
5% to 90%. non-condensmg (lested in accoroance 
with IEC-60068-1-56 J 
2.000 m rat 15 'C ambienl temperature) 
2 
The USB-6008 and USB-6009 are designed to mee! !he requirements of !he follow,ng standards of safely 
far electrical equipmenl far measurement. control. and laboratory use 
• IEC 61010-1 EN 61010-1 
• Ul 61010-1 
• CAN'CSA C111 No 61110-1 
Nole FOI' Ul and other salety certificahons. refer to the product label. ar visit .,¡ ::om ccr~1f,c:i11on, 
search by model number or product line, and dick lhe appropnale link in \he Certifica bon column 
Voltages 
Connect only voltages thal are wilh111 the absolution maximum 1imits of lhe connec\icn poin\ 
See pertinent spec,ficahon section ror appropnate lim1ts 
Hazardous Locations 
The USB-6008 and USB-6009 are not certified for use ,n hazardous locat,ons 
Electromagnetic Compatibility 
Em1ss1ons 
lmmunity 
EMC,EMI 
EN 55011 Class A al 10 m 
~CC Part 15A above 1 GHz 
lnduslnal levels per EN 61326 1997 • A2 2C01 Table 1 
CE. C-Tick. and fCC PM 15 ICiass Al Compl,anl 
Nole The USB-6008 and USB-6009 may expenence 1emporc1ry vanations m ana!og input 
readmgs when expased to rad•aled and conducted RF noise. Dev,ce retums to normal operatt0n 
after RF exposure is remo1.ed 
CE Compliance ( E 
This producl meets lhe essential rec¡uirements of applicable European Oirect,ves. as amended far 
CE marking, as follows 
low-Voltage Direct,ve 1Salety1 73'2:l'EEC 
Electromagnetlc Compat1b1hty 
Directíve (El1\C¡ 89'336HC 
Nole Reler to the Dectaralion of Conform1ty (D0C1 for this product far any additional regulalory compl1ance 
information. To oblain the DoC far this product, visil n1 coni:ccrN1ca11ori search by model number or 
product hne. and dick the appropriate lmk in lhe Certification column 
National lnstruments • Te!: (800) 813-3693 • info@ni.com • ni.com 
36 
Hardware 
Vbus 
USB-6008/6009 User Guide 
Thc following block diagrarn shows key funclional cornponcnts of thc 
USB-6008/6009. 
USB 
Externa! 
Power 
Supply 
USB Microcontroller 
8 Channel 
12/14b ADC 
12b DAC 
12b DAC 
+5 V/200mA 
PFIO 
P1 .<0 .. 3> 
P0.<0 .. 7> 
+2.5 V/CAL 
Al <0 .. 7> 
AO O 
AO 1 
Figure 4. Device Block Diagram 
ni.com 
37 
Setting Up Hardware 
Complete the following steps to set up lhe hardware: 
1. Install combieon screw terminal blocks by inserting them into the 
combicon jacks. 
~ O Note The USB-6008/6009 kit ships with signa! labels. You can apply the signa! labels to 
the screw terminal blocks for easy signa! identilication. 
2. Refer to Table I and Figure 5 for labcl oricntation and afiix the 
provided signa! labels to the screw terminal blocks. Until thc signa! 
labels are applied, you can insert the scrcw terminal blocks into either 
of the combicon jacks. Refer to Figure 5 for more information about 
signa! labcl orientation. 
1 Overlay Label with Pin Orientalion Guides 
2 Combicon Jack 
3 Screw Terminal Blocks 
4 Signal Labels 
Figure 5. Signal Label Application Diagram 
Note Once you label thc screw terminal hlocks, you must only inserl thcm into the 
matching combicon jack, as indicated by the ovcrlay label on the USB-6008/6009 device. 
3. Connecl the wiring to the appropriate screw terminals. 
38 
© Nat10nal lnstruments Corporation USB-600816009 User Guide 
1/0 Connector 
Module 
-
-
-
~--
-
--¡¡--
u 
USB-6008/6009 User Guide 
The USB-6008/6009 ships with one detachable screw terminal block for 
analog signals and one deLachable screw terminal block for digital signals. 
Thesc terminal blocks providc 16 conncctions that use 16 A WG to 
28 AWG wirc. 
Table I lists the analog terminal assignmcnts, and Table 2 lists the digital 
terminal assignments. 
Table 1. Analog Terminal Assignments 
Signal, Signal, 
Terminal Singlc-Ent.let.1 Molle Differcntial Molle 
1 GND GND 
2 Al O Al Qi 
3 Al 4 Al O-
4 GND GND 
5 Al 1 Al l+ 
6 Al 5 Al 1-
7 GND GND 
8 Al 2 Al 2+ 
9 Al 6 Al 2-
10 GND GND 
11 Al 3 Al 3+ 
12 Al 7 Al 3-
13 GND GND 
14 AOO AO O 
15 AO 1 AO 1 
16 GND GND 
39 
m.com 
Vlodulc 
~ 
.,_ 
.,_ 
_.___.,, 
- ~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
~ 
- ~ 
11 
o 
© National lnstruments Corporation 
Table 2. Digital Terminal Assignments 
Terminal 
17 
18 
19 
" 20 
21 
22 
23 
24 
25 
26 
27 
28 
29 
30 
Á 
31 
32 
Signal 
PO.O 
PO. I 
P0.2 
P0.3 
P0.4 
P0.5 
PO 6 
P0.7 
PI.O 
PI.I 
Pl.2 
Pl.3 
PFIO 
12.5 V 
+5 V 
GND 
40 
USB-600816009 User Guide 
Signal Descriptions 
Table 3 describes the signals available on the 1/0 connectors. 
Table 3. Signal Descriptions 
Signal Namc Rcfcrencc l>irection Dcscription 
GND - - Ground-The reference point for the 
single-ended Al measurements, bias 
current return point for differential mode 
mcasurements, AO vollages, digital 
signals at the 1/0 connector, + 5 VDC 
supply, and the 1 2.5 VDC reference. 
Al <0 .. 7> Varíes Input Analog Input Channcls O to 7- For 
single-cnded measurements, cach signa( is 
an analog input voltage channel. For 
differcntial measuremcnts, Al O and Al 4 
are the positive and negative inputs of 
diffcrential analog input channcl O. The 
following signal pairs also form differentia 
input channels: 
<Al 1, Al 5>, <Al 2, Al 6>, and 
<Al 3, Al 7>. 
AOO GND Output Analog Channel O Output- Supplies the 
voltage output of AO channel O. 
AO 1 GND Output Analog Channel I Output-Supplies the 
voltage output of AO channcl 1. 
Pl.<0 .. 3> GND Input or Output Digital 1/0 Signals- You can 
P0.<0 .. 7> individually configure cach signal as an 
input or output. 
+2.5 V GND Output +2.5 V External Reference-Provides a 
reference for wrap-back testing. 
+5 V GND Output +5 V Power Source-Provides +5 V 
power up to 200 mA. 
PFlO GND Input PFI O-This pin is configurable as either a 
digital trigger or an event counter input. 
41 
USB-600816009 User Guide mcom 
	33068000999685-1
	33068000999685-2
	33068000999685-3
	33068000999685-4
	33068000999685-5
	33068000999685-6
	33068000999685-7
	33068000999685-8
	33068000999685-9
	33068000999685-10
	33068000999685-11
	33068000999685-12
	33068000999685-13
	33068000999685-14
	33068000999685-15
	33068000999685-16
	33068000999685-17
	33068000999685-18
	33068000999685-19
	33068000999685-20
	33068000999685-21
	33068000999685-22
	33068000999685-23
	33068000999685-24
	33068000999685-25
	33068000999685-26
	33068000999685-27
	33068000999685-28
	33068000999685-29
	33068000999685-30
	33068000999685-31
	33068000999685-32
	33068000999685-33
	33068000999685-34
	33068000999685-35
	33068000999685-36
	33068000999685-37
	33068000999685-38
	33068000999685-39
	33068000999685-40
	33068000999685-41
	33068000999685-42
	33068000999685-43
	33068000999685-44
	33068000999685-45
	33068000999685-46
	33068000999685-47