Descarga la aplicación para disfrutar aún más
Vista previa del material en texto
Caracterización mediante XPS y UPS Presenta: Sofía Nava Coronel 1 de octubre del 2020, Michoacán, México. 1 Espectroscopia de rayos X fotoelectrónica (XPS) Ventajas Alto contenido de información Flexibilidad para gran variedad de muestras Utiliza electrones Información cualitativa y cuantitativa excepto de H y He Identificación de elementos hasta concentraciones > 0.1% Determinación de composición elemental (error 10% Química Organización Morfología de la superficie Entorno molecular: estados de oxidación, átomos enlazantes, orbitales moleculares, etc. Grupos orgánicos Perfiles de profundidad de 10 nm Principio El fotón interacciona con un electrón de un orbital con transferencia total de la energía del fotón hacia el electrón Cuando se aumenta gradualmente la energía del fotón , aumenta la fotoemisión de electrones del átomo Para gases la energía de enlace es igual a la energía de ionización EB= energía de enlace hv = energía de la fuente KE =energía cinética del electrón Enlaces iónicos o covalentes Principio El numero de electrones será proporcional a la intensidad Electrones de Auger con energía independiente Para superficies es necesaria una energía adicional para remover el electrón (función de trabajo) Ultra alto vacío (>10^-9 mbar) Preparación de las muestras Triturado en mortero de Ágata Laminas de indio (In) Stub Instrumento BE= energía de enlace KE= energía cinética Espectros Espectroscopia ultravioleta fotoelectrónica (UPS) Información química de superficies de materiales solidos Sistemas de adsorbatos, calculando la cinética de absorción y evolución química Adsorción de gases nobles Determinación de estructura de bandas de superficie y volumen Energías de fotón bajas de 20-100 eV Los electrones tienen EB=0 La resolución permite observar orbitales de valencia Principio e instrumentación Distribución de energia, con energia constante del fotón se obtiene el numero de fotoelectrones producidos Distribución angular, en una dirección angular determinada se mide la curva de distribución Distribución de espines, determinando su polarización en función de la energia de excitación Flujo electrónico total, en función de la energia de los fotones incidente Análisis en procesos de emisión
Compartir