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Revista Brasileira de Ensino de F́ısica, v. 27, n. 4, p. 565 - 570, (2005)
www.sbfisica.org.br
Empleo del método matricial en el curso de óptica:
Capas delgadas antirreflectantes
(Use of matrix method in optics: antireflective thin films)
J. Fuentes Betancourt1, A. Pérez Perdomo, O. Calzadilla Amaya y O. Hidalgo Alonso
Taller de Enseñanza de la F́ısica Universitaria, Universidad de La Habana, Habana, Cuba
Recebido em 16/2/2005; Aceito em 23/8/2005
Se expone una experiencia didáctica, en el tratamiento de las láminas delgadas dentro del curso de óptica de
la Licenciatura en F́ısica. Se busca incrementar el papel del estudiante en el proceso de enseñanza aprendizaje.
Se retoman los conocimientos adquiridos en álgebra lineal, computación y óptica. Se utiliza el método matricial
para analizar y estudiar el comportamiento de la reflectancia de la radiación luminosa al incidir sobre una lámina
multicapa. Tal estructura es importante, por cuanto constituye el modelo de un sistema f́ısico de amplio empleo:
las celdas solares. Se concluye que la integración de conocimientos, el empleo de las técnicas de computación y su
aplicación a un objeto de estudio nuevo, aśı como la discusión grupal incrementan la motivación y participación
del estudiante en la solución del problema.
Palabras clave: interferencia, lámina delgada, estructuras multicapas, reflectancia, método matricial.
A didactic experience has been proposed in the treatment of thin layers as part of the optics course of the
Degree in Physics. It is oriented for increasing students role in the process of teaching-learning. Linear algebra,
computation and optics contents are reintroduced through the matrix method for analysing and studying light
reflection on multilayers, a model of the widely employed physical system like solar cells. It is concluded that by
integrating the knowledge acquired, computing techniques and their application to a previously unknown study
subject, could result in increased motivation due to group debate and participation of students for solving the
problem.
Keywords: interference, thin layer, multilayer structure, reflectance, matrix method.
1. Introducción
Los Planes de Estudio de la Carrera de F́ısica de la
Universidad de La Habana y los programas de las disci-
plinas que los han conformado han tenido, en sucesivos
perfeccionamientos como hilo conductor, los siguientes
principios: vinculación de la teoŕıa con la práctica; inte-
gración de conocimientos e incremento de la creatividad
en el trabajo cient́ıfico de los estudiantes.
En la fundamentación y los objetivos de la disci-
plina de F́ısica General [1] se llama la atención de los
docentes sobre “la necesidad de desarrollar la creativi-
dad”..al aprovechar “situaciones que requieren de la in-
tegración de los conocimientos adquiridos”.. y “también
la discusión colectiva de situaciones nuevas, tales como
problemas de la vida real que no tienen solución exacta
o única...”.
El Plan de Estudios contempla, a partir del se-
gundo semestre un curso de álgebra lineal y dos de
computación. Uno de los objetivos planteados en los
cursos de computación [2] es “desarrollar la capacidad
profesional, al apropiarse de los conocimientos básicos
de la programación con un super lenguaje estructura-
do y lo más actual posible, del funcionamiento de los
microprocesadores, los sistemas operativos, Windows
y aplicaciones actuales para la solución de problemas
f́ısicos”. En este contexto se estudia y se desarrrollan
habilidades prácticas para el empleo del Programa de
cálculo Mathematica [3], el cual posibilita observar co-
mo influye la variación de los valores de determinados
parámetros en las expresiones matemáticas que repre-
sentan nuestro modelo f́ısico y sobre esa base enriquecer
su análisis [4].
Tradicionalmente en los cursos de óptica [5] se ha
empleado, como concepción didáctica, el énfasis en el
trabajo independiente de los estudiantes, con el objeti-
vo de que logren un enfoque integrador en el estudio de
los fenómenos f́ısicos. A la interferencia de la radiación
luminosa en láminas delgadas, se le dedican dos confe-
rencias [6], para las cuales se le indica al estudiante la
1E-mail: jfuentes@fisica.uh.cu.
Copyright by the Sociedade Brasileira de F́ısica. Printed in Brazil.
566 Betancourt et al.
lectura complementaria [7, 8]. Se dedican dos sesiones
de clases prácticas [9] a la solución de problemas, y con
posterioridad se desarrolla un seminario [10], para el
cual se le facilita al estudiante un material docente [11]
compilado espećıficamente para esta actividad.
Esta forma tradicional de impartir los conocimien-
tos relacionados con este fenómeno, en la cual el estu-
diante mostraba lo adquirido en aplicaciones a estruc-
turas multicapas sencillas, no requeŕıa de un especial
conocimiento de las técnicas de computación y se de-
saprovechaban oportunidades para la formación inte-
gral del estudiante.
En consecuencia, los colectivos de las asignaturas
de computación y de óptica realizaron una primera ex-
periencia pedagógica [12], que consistió en integrar los
conocimientos y habilidades adquiridos por los estu-
diantes en los cursos precedentes de computación y álge-
bra lineal, para su aplicación a la solución de problemas
derivados del diseño de sistemas de lentes, en un semi-
nario programado al efecto. Estimulados por los resul-
tados obtenidos, se plantearon una segunda experiencia
que es el objeto del presente trabajo.
2. Elementos teóricos
2.1. De didáctica
La concepción que sustenta la experiencia pedagógi-
ca que presentamos [13, 14] tiene como idea central que
el proceso de enseñanza aprendizaje expresa en śı mis-
mo dos formas de actividad: la del estudiante y la del
profesor, las que, aunque intimamente relacionadas, re-
flejan su doble carácter.
Aśı el proceso de enseñanza comprende la con-
cepción, elaboración y puesta en práctica de acciones
y formas de organización del proceso de aprendizaje
tales, que garantice que los estudiantes asimilen los
conocimientos, y desarrollen hábitos y habilidades. Esta
demostrado que el proceso de aprendizaje no se produce
sin la activa y consciente participación del estudiante.
De los planteamientos anteriores se desprende que le
corresponde al profesor diseñar el sistema de acciones,
que garanticen crear est́ımulos y despertar en los estu-
diantes el interés por involucrarse en el trabajo nece-
sario para alcanzar el pleno dominio del material do-
cente.
Un elemento muy importante a considerar, y fuerza
motriz fundamental del profesor es la contradicción
existente entre la secuencia propuesta al estudiante
para su aprendizaje en las tareas cognoscitivas y prácti-
cas y el real nivel de conocimientos, hábitos y habili-
dades que el estudiante posee.
En este sentido el arte del profesor está en poner de
manifiesto, y emplear esta contradicción para activar el
proceso cognoscitivo de los estudiantes. Es fundamen-
tal que el proceso de enseñanza esté en corresponden-
cia con las posibilidades cognoscitivas del estudiante:
se aproveche al máximo la existencia de conocimien-
tos, hábitos y habilidades; aśı como el nivel y grado de
desarrollo de las capacidades intelectuales de los estu-
diantes.
El proceso de aprendizaje solamente se podrá consi-
derar completo si el estudiante llega a saber cómo em-
plear sus conocimientos, hábitos y habilidades en la
práctica. En este sentido la comprensión tiene un pa-
pel fundamental: solamente lo que se comprende bien,
se asimila y recuerda fácilmente. La comprensión tiene
como elemento esencial la correlación existente entre
las nuevas ideas y el sistema de ideas anteriormente
asimilado. Aunque este proceso siempre tendrá la im-
pronta de la experiencia individual, nuestra práctica do-
cente nos indica que la comprensión será más completa
y consciente si logramos motivar al estudiante.
Para que el proceso cognoscitivo tenga lugar, el es-
tudiante debe quereraprender. ¿Cómo motivarlo? Es-
to es un problema fundamental planteado a la ciencia
pedagógica. En nuestra experiencia los motivos de exci-
tación del pensamiento son la base más segura para el
mantenimiento, fijación y ulterior desarrollo de los in-
tereses cognoscitivos: deseos de encontrar por si mismo
la respuesta al problema planteado, discusión grupal
de ideas que pueden consolidarse o modificarse, satis-
facción por el éxito de la solución, comprensión de la sig-
nificación práctica del asunto resuelto, y también satis-
facción con el proceso del trabajo intelectual.
2.2. De óptica matricial
Para el estudio de la interferencia de la radiación lu-
minosa en capas delgadas aplicando el método matricial
[7, 8], las técnicas de la computación abren la posibili-
dad de un estudio más completo del fenómeno f́ısico.
Supongamos que un haz de luz monocromática de
longitud de onda λ incide sobre una capa no conduc-
tora, homogénea, no magnética e isótropa, de espesor
tal, que la diferencia de recorrido óptico entre los haces
reflejados y transmitidos, después de experimentar las
reflexiones múltiples se mantiene pequeña en compara-
ción con la longitud de coherencia, lo que asegura aśı,
que los haces sean esencialmente coherentes.
Figura 1 - Estructura de capa y sustrato que muestra la propa-
gación de la luz.
Empleo del método matricial en el curso de óptica: Capas delgadas antirreflectantes 567
Teniendo en cuenta las condiciones de frontera
para los campos magnéticos y eléctricos de las ondas
planas incidentes en las interfaces, podemos obtener la
ecuación matricial que relaciona los valores de los cam-
pos netos en una cara de la capa, con los valores que
tienen en la otra. Estas ecuaciones pueden ser escritas,
en forma matricial, de la manera siguiente:
[
Ea
Ba
]
=
[
cos(δ) ısen(δ)/γ1
ıγ1sen(δ) cos(δ)
] [
Eb
Bb
]
, (1)
el sub́ındice a o b en los campos eléctrico y magnético
está referido a las caras de la capa; δ = 2πn1t cos χ/λ0
es el cambio de fase que adquiere el haz de luz al atra-
vesar la capa; χ es el ángulo de refracción; t el espesor
de la capa; n1 el ı́ndice de refracción del material de la
capa y γ1 puede tomar dos valores, en dependencia de
la orientación del campo con respecto al plano de inci-
dencia: cuando esté perpendicular γ1 = n1
√
�0µ0 cos χ
y γ1 =
√
�0µ0n1/ cos χ cuando esté paralelo.
La matriz de segundo orden que aparece en la expre-
sión (1) es llamada matriz de transferencia de la capa
y se representa en general como:
M =
[
m11 m12
m21 m22
]
. (2)
La matriz de transferencia total de un sistema, MT , for-
mado por varias capas, es el producto de las matrices
individuales de transferencia, en el que se mantiene el
orden en el cual la luz atraviesa las capas al propagarse
a través del sistema. Tenemos entonces:
M = M1M2...MN. (3)
Se obtienen entonces, las siguientes expresiones para
los coeficientes de reflexión y de transmisión de ampli-
tud, en función de los elementos de la matriz de trans-
ferencia;
r =
γ0m11 + γ0γsm12 − m21 − γsm22
γ0m11 + γ0γsm12 + m21 + γsm22
(4)
t =
2γ0
γ0m11 + γ0γsm12 + m21 + γsm22
, (5)
donde γ0 y γs son parámetros que caracterizan el medio
sobre la capa y el sustrato, respectivamente [11]. Dichas
ecuaciones nos permiten calcular las propiedades reflec-
tantes y refringentes tanto de una capa sencilla como
de una lámina multicapa representada por la matriz de
transferencia.
Aunque la incidencia normal de la luz sobre la lámi-
na es una situación particular, ésta es la que con más
frecuencia se emplea en la práctica y será la que estu-
diaremos. Obsérvese que en este caso el parámetro γ1
es igual para ambas polarizaciones dado que el cos χ, es
igual a la unidad.
Como es conocido, la reflectancia R representa la
relación de la irradiancia reflejada, con respecto a la
irradiancia de la radiación incidente.
La reflectancia R de una estructura, ver Fig. 1, for-
mada por una capa de ı́ndice de refracción n1, sobre un
sustrato de ı́ndice de refracción ns, situada ésta en un
medio con ı́ndice de refracción n0, está definida por:
R =| r2 |, (6)
donde
r =
n1(n0 − ns) cos(δ) + ı(n0ns − n21) sin(δ)
n1(n0 + ns) cos(δ) + ı(n0ns + n21) sin(δ)
(7)
es el coeficiente de reflexión de amplitud, que repre-
senta la relación entre las intensidades de los campos
eléctricos incidente y reflejado.
3. Aplicación del método matricial al
cálculo de la reflectancia espectral de
celdas solares
El objeto del seminario son las celdas solares. Se
aplica el método matricial y las técnicas de com-
putación al tratamiento de la radiación luminosa al in-
cidir sobre una lámina multicapa.
Apesar de su estudio ser objetivo de cursos supe-
riores, esta selección se justifica, dado que pone en con-
tacto al estudiante con una aplicación práctica muy im-
portante, que le sirve de motivación.
Durante el seminario se profundizó con los estu-
diantes en el funcionamiento de las celdas solares y sus
aplicaciones tanto terrestres como espaciales. Se les ex-
plicó los materiales semiconductores con los cuales se
construyen como el Si, GaAs o el CdTe y que en to-
dos los casos se emplean capas antirreflectantes, lo que
incrementa la cantidad de enerǵıa luminosa utilizable.
Con este objetivo en la oblea de material semiconduc-
tor, fundamentalmente silicio, en la cual se ha obtenido
por difusión una juntura p-n, se deposita una capa de
un material adecuado con un ı́ndice de refracción tal
que la reflectancia disminuya sustancialmente.
Como orientación para la solución del problema del
seminario se facilitaron a los estudiantes programas que
permiten calcular el valor de la reflectancia en por cien-
tos y graficar la reflectancia espectral para una o más
capas.
3.1. Problemas propuestos a los estudiantes
Una vez establecida la importancia práctica del em-
pleo de láminas multicapas, se propone a los estudiantes
resolver los problemas que se anotan a continuación.
Se les alerta que la dispersión está presente, pero no
será considerada. Por la naturaleza de los materiales
usados y dados los objetivos de la actividad, la gene-
ralidad del método mantiene su validez.
568 Betancourt et al.
Problema 1. Se tiene una oblea de Si en la que se
ha obtenido por difusión una juntura p-n. Se requiere
depositar una capa de un óxido para disminuir la re-
flectancia del silicio. Con los datos de la Tabla 1 y con-
siderando la longitud de onda de trabajo 550 nm, los
estudiantes deben:
a) Hallar la combinación de la capa de silicio cubier-
ta con una capa de óxido de λ/4 con la cual se obtiene
la mayor disminución de la reflectancia de la lámina de
dos capas.
b) Determinar el óptimo espesor con el cual se alcan-
za el mı́nimo de reflectancia con este mismo material.
c) Graficar la reflectancia espectral en el intervalo
entre 400-900 nm.
Material Índice de refracción
Silicio 3,99
SiO2 1,457
TiO2 2,579
SnO2 1,88
Tabla 1. Datos de los materiales utilizados en la celdas
solares de Silicio
Problema 2. Se tiene una celda solar multicapa, de-
positada sobre una lámina de vidrio con la siguiente es-
tructura: capa de ITO (óxido de indio dopado con óxido
de estaño), capa de CdS y capa de CdTe, cuyos ı́ndices
de refracción aparecen en la Tabla 2 y considerando la
longitud de onda de trabajo 550 nm.
a) Determinar cuánto disminuye la reflectancia es-
pectral si el espesor de cada capa depositada es de un
cuarto de onda y el espesor del vidrio es 85 µm (Ver
Fig. 2).
b) Graficar la reflectancia espectral en el intervalo
entre 300-900 nm.
Material Índice de refracción
Vidrio 1,5299
ITO 1,96
CdS 2,51
CdTe 2,894
Tabla 2. Datos para el Problema 2
Figura 2 - Vista de la estructura de la celda solar de CdTe.
Resultados obtenidos: El primero y de carácter ge-
neral fue el elevado nivel de motivación de los estudian-
tes. Esto se reflejó en su preparación para el seminario.
Además participaron activamente en el análisis de los
fenómenos f́ısicos y de los distintoscomportamientos de
la reflectancia en cada caso, proponiendo alternativas
a la formulación de los problemas. Todo esto eviden-
ció que se logró activar su participación consciente en
el proceso de enseñanza aprendizaje. Los estudiantes
demostraron y consolidaron un adecuado conocimiento
y manejo de las herramientas de cálculo.
Figura 3 - Reflectancia espectral para capas con n1 = 1.457, 1.88,
2.579.
Primer problema
a) Los estudiantes, empleando las herramientas de
cálculo, revelaron el comportamiento de cada una de las
alternativas propuestas en el rango visible del espectro.
Se llama la atención de los estudiantes sobre que el valor
de la reflectancia calculado para el silicio sin capa antir-
reflectante es de (≈ 36%). Se comprobó que la mayor
disminución se obtiene empleando el óxido de estaño
con el cual se alcanza un valor de ≈ 0.37% en 550 nm.
b) Para establecer el espesor óptimo, con el cual se
alcanzaŕıa el mı́nimo de la reflectancia empleando el
óxido de estaño, se utilizó la expresión obtenida teóri-
camente para ésta, en el caso de incidencia normal:
R =
n21(n0 − ns)2 cos2(δ) + (n0ns − n21)2 sin2(δ)
n21(n0 + ns)2 cos2(δ) + (n0ns + n
2
1)2 sin
2(δ)
(8)
y como trabajamos con capas de un cuarto de longitud
de onda tenemos que sen(δ) = 1 y cos(δ) = 0 , aśı que;
R =
(
n0ns − n21
n0ns + n21
)2
, (9)
de donde se tiene que la reflectancia será mı́nima cuan-
do n1 =
√
n0ns. En nuestro caso esto implica que
n1 = 2, valor cercano al ı́ndice de refracción del óxi-
do de estaño.
El programa elaborado permitió encontrar el espe-
sor óptimo de la capa antirreflectante. Para el caso del
SnO2 fue de 73.1 nm, lo que coincide con el espesor de
la capa de λ/4.
Se mostró que para la capa de SiO2 que es el ma-
terial más utilizado, por las facilidades tecnológicas de
obtención, la reflectancia R = 9.3% y el espesor óptimo
resultó 94.4 nm.
Empleo del método matricial en el curso de óptica: Capas delgadas antirreflectantes 569
c) Los resultados se muestran en la Fig. 3, donde se
presentan las curvas de reflectancia espectral obtenidas
para las diferentes capas antirreflectantes.
El empleo de las herramientas de cálculo permi-
tió mostrar a los estudiantes cómo al incrementar el
espesor de la capa de SnO2, por ejemplo hasta 600 nm,
Fig. 4, los haces reflejados desde las diferentes caras
producen un patrón caracteŕıstico de máximos y mı́ni-
mos de irradiancia, que se manifiesta en una oscilación
en los valores de la reflectancia.
Se les muestra que a partir de la gráfica de la Fig. 4,
si desconociéramos su espesor, t, seŕıa posible estable-
cerlo, a través de la expresión [15]:
2n1t =
λ1λ2
λ1 − λ2 , (10)
donde los valores de la longitud de onda se correspon-
den a los de dos mı́nimos o dos máximos consecutivos
de irradiancia y n1 es el ı́ndice de refracción de la capa.
Figura 4 - Reflectancia espectral para una capa de espesor de 600
nm.
Segundo problema
a) Se establece que al ser todas las capas de un cuar-
to de longitud de onda para cada uno de los materiales
empleados y sustrato del espesor indicado, la reflectan-
cia disminuye hasta R=1.3-1.6% en el entorno de la
longitud de onda de trabajo.
b) El gráfico de la reflectancia espectral en el in-
tervalo dado muestra una apreciable disminución de la
reflectancia R en el entorno de la longitud de onda de
trabajo, ver Fig. 5. Se llama la atención del estudiante
acerca de que la disminución de la reflectancia para la
longitud de onda de trabajo no es tan significativa co-
mo en el caso de la capa de SnO2 sobre silicio, pero
que esta es una estructura novedosa, poco costosa y
posee la ventaja de que el contacto es depositado sobre
toda la cara posterior, lo que mejora la recolección de
portadores de carga.
Se sugiere a los estudiantes que, aprovechando las
posibilidades de las herramientas de cálculo, se propon-
gan alternativas para encontrar un compromiso entre
valores pequeños de reflectancia y mayor ancho del ran-
go de longitudes de onda. Se promueve la discusión de
los resultados obtenidos profundizando en el fenómeno
f́ısico.
Figura 5 - Reflectancia espectral de la celda solar de CdTe.
En cada uno de los problemas planteados se lla-
ma la atención del estudiante sobre las posibilidades
que ofrece el tratamiento matricial con el empleo de las
herramientas de cálculo, en cuanto a obtener las gráficas
del comportamiento de la reflectancia en dependencia
de las relaciones existentes entre los ı́ndices de refrac-
ción de las capas y el sustrato, aśı como de la longitud
de onda de la radiación incidente. Esta posibilidad se
ejercita y aprovecha para que los estudiantes propon-
gan alternativas y modificaciones a la propuesta inicial
del problema.
Una vez concluido el seminario se verificó en los
estudiantes un elevado nivel de satisfacción con la ac-
tividad, lo que permite afirmar que se lograron los obje-
tivos didácticos planteados y que estos se involucraron
consciente y activamente en el proceso de enseñanza
aprendizaje.
4. Conclusiones
La organización del seminario cumplió con los obje-
tivos didácticos que nos planteamos. Los estudiantes:
• Profundizaron en la comprensión del fenómeno de
la interferencia de la radiación luminosa al incidir sobre
láminas delgadas.
• Ampliaron sus conocimientos de óptica, algebra
matricial y computación, con lo que se logró la inte-
gración de conocimientos que nos propońıamos inicial-
mente.
• Lograron discutir el método matricial y las posi-
bilidades y ventajas que brinda su complementación
con las técnicas de computación. El estudiante, además
de calcular la reflectancia espectral pudo, aprovechan-
do las posibilidades que ofrecen los métodos computa-
cionales, observar como influye la variación de los dife-
rentes parámetros sobre la reflectancia.
• Se motivaron, al aplicar sus conocimientos al es-
tudio de las celdas solares en calidad de modelo f́ısico,
lo que se tradujo en un incremento en su interés por el
aprendizaje.
570 Betancourt et al.
• Incrementaron su interés, lo que creó un ambiente
propicio para el debate de ideas y permitió enriquecer
la discusión f́ısica del fenómeno.
El resultado obtenido permite afirmar que en la acti-
vidad se logró la asimilación de nuevos conocimientos
y el desarrollo de hábitos y habilidades y que el estudi-
ante ha consolidado los conocimientos sobre la óptica,
a través del principio “aprender haciendo”.
Agradecimientos
Los autores expresan su mas sentido agradecimiento
al árbitro por sus sugerencias y señalamientos. Al Dr.
Ernesto Reyes-Gómez por su ayuda con el TeX. A los
Profesores Luis Hernández Garćıa, Medel Pérez Quin-
tana y Marlen Domı́nguez Hernández, por su lectura
cŕıtica del manuscrito. Y a la M.C. Ĺıdice Vaillant por
los datos aportados sobre las celdas solares de CdTe.
Referências
[1] Programa de la Disciplina de F́ısica General (Facultad
de F́ısica, Universidad de la Habana, 1998).
[2] Programa de la Asignatura de Computación (Facultad
de F́ısica, Universidad de la Habana, 1998).
[3] J. Fuentes y M. Hernández, in Actas del Segundo Taller
Iberoamericano de Enseñanza de la F́ısica Universi-
taria (2000), p. 572.
[4] B.A. Thacker, Rep. Prog. Phys. 66, 1833 (2003).
[5] O. Calzadilla, A. Pérez, A. Fornés y T. Molina, in Eight
International American Conference on Physics Educa-
tion (2003).
[6] “La Conferencia es el tipo de actividad docente que
tiene como objetivo instructivo principal la orientación
a los estudiantes de los fundamentos cient́ıco-técnicos
más actualizados de una rama del saber”
[7] E. Hecht, Óptica (Addison Wesley Iberoamericana.
Madrid, 2000), tercera edición.
[8] F.L. Pedrotti, S.J. Pedrotti and L.S. Pedrotti, Introduc-
tion to Optics (Prentice-Hall International Inc., Engle-
wood Cliffs, 1993).
[9] “La clase práctica es el tipo de actividad docente
que tiene como objetivo instructivo principal que los
estudiantes ejecuten, amplien, profundicen, integren y
generalicen determinadosmétodos de trabajo que les
permitan desarrollar cualidades para utilizar y aplicar
de modo independiente, los conocimientos”.
[10] “El seminario es el tipo de actividad docente que tiene
como objetivo instructivo principal que los estudiantes
consoliden, amplien, profundicen, discutan, integren y
generalicen los contenidos orientados aborden la resolu-
ción de problemas mediante la utilización de los méto-
dos propios de la rama del saber y de la investigación
cient́ıfica; desarrollen su expresión oral, el ordenamien-
to lógico de los contenidos y las habilidades en la uti-
lización de las diferentes fuentes del conocimiento”
[11] A. Pérez Perdomo y O. Calzadilla Amaya, Óptica Ma-
tricial (Ediciones Universidad de la Habana, La Ha-
bana, 1996).
[12] J. Fuentes, A. Pérez, O. Calzadilla y O. Hidalgo, Acep-
tado por la Rev. Bras. Ens. F́ıs.
[13] D.P. Ausubel, J.D. Novak y H. Hanesian, Psicoloǵıa
Educativa: Un Punto de Vista Cognitivo (Editorial
Trillas, México, 1983).
[14] L.C. Vigotski, Fragmentos. Tomo 1. Cuestiones de
la Teoŕıa e Historia de la Psicoloǵıa editado por
A.P. Luria y M.G. Iaroshevskogo (Editorial Pedogoǵıa,
Moscú, 1982).
[15] O.S. Heavens, Optical Properties of Thin Films (Dover
Publication Inc;, New York, 1991), 2nd ed., p. 115.