Difracción de Rayos X (DRX) Para el análisis de los patrones de difracción de las nanopartículas se utilizó El Difractómetro de rayos X marca Bruke...

Difracción de Rayos X (DRX) Para el análisis de los patrones de difracción de las nanopartículas se utilizó El Difractómetro de rayos X marca Bruker modelo D8 Focus que tiene una fuente de rayos X de filamento de Cu con radiación K-alpha de longitud de onda de 1.5406 Ao, con un detector de centelleo, a temperatura ambiente se colocó una cantidad de nanopartículas pulverizadas (aproximadamente el 50% del total) en el portamuestra de manera que queden homogéneas y compactas, luego se programó las condiciones para el análisis las cuales fueron con un voltaje de 30 Kv y una intensidad de corriente de 40 mA, de 15o a 75o en 2θ a un paso de 0.02o y 1 segundo de tiempo de permanencia.